光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠(chǎng)家

德國(guó)TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具，全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤(pán)可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時(shí)間:2025-07-26
自動(dòng)在線(xiàn)光學(xué)檢測(cè)儀 單軌在線(xiàn)AOI SMT焊接爐后檢測(cè)設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線(xiàn)上的多個(gè)位置，但有三個(gè)位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測(cè)放在錫膏印刷機(jī)之后，這是個(gè)典型的放置位置，因?yàn)楹芏嗳毕菔怯捎阱a膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會(huì)導(dǎo)致元件丟失或開(kāi)路的原因。2、回流焊，將檢測(cè)設(shè)備放置于貼片后
更新時(shí)間:2025-07-26
影像儀VMS-1510G萬(wàn)濠2.5次元
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更新時(shí)間:2025-07-26
影像儀VMS-1510F萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-2010G萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-2010F萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-2515G萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-2515F萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-3020G萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-3020F萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-4030G萬(wàn)濠2.5次元
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影像儀VMS-4030F萬(wàn)濠2.5次元
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萬(wàn)濠全自動(dòng)影像儀VMS-2515H影像測(cè)量?jī)x
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萬(wàn)濠全自動(dòng)影像儀VMS-3020H影像測(cè)量?jī)x
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萬(wàn)濠全自動(dòng)影像儀VMS-4030H影像測(cè)量?jī)x
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落地式全自動(dòng)影像儀VMS-5040H萬(wàn)濠影像儀
落地式全自動(dòng)影像儀vms-5040h萬(wàn)濠影像儀落地式全自動(dòng)影像儀vms-5040h萬(wàn)濠影像儀落地式全自動(dòng)影像儀vms-5040h萬(wàn)濠影像儀落地式全自動(dòng)影像儀vms-5040h萬(wàn)濠影像儀
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萬(wàn)濠影像儀落地式半自動(dòng)影像儀VMS-5040M
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3007
萬(wàn)濠投影儀cpj-3007萬(wàn)濠投影儀cpj-3007萬(wàn)濠投影儀cpj-3007萬(wàn)濠投影儀cpj-3007
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3007Z
萬(wàn)濠投影儀cpj-3007z萬(wàn)濠投影儀cpj-3007z萬(wàn)濠投影儀cpj-3007z萬(wàn)濠投影儀cpj-3007z
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3010
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3010Z
萬(wàn)濠投影儀cpj-3010z萬(wàn)濠投影儀cpj-3010z萬(wàn)濠投影儀cpj-3010z萬(wàn)濠投影儀cpj-3010z
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3015
內(nèi)選投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3015內(nèi)選投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3015內(nèi)選投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3015內(nèi)選投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3015
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3015Z
萬(wàn)濠投影儀cpj-3015z萬(wàn)濠投影儀cpj-3015z萬(wàn)濠投影儀cpj-3015z萬(wàn)濠投影儀cpj-3015z
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3015A
萬(wàn)濠投影儀cpj-3015a萬(wàn)濠投影儀cpj-3015a萬(wàn)濠投影儀cpj-3015a萬(wàn)濠投影儀cpj-3015a
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3015AZ
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3020A
萬(wàn)濠投影儀cpj-3020az萬(wàn)濠投影儀cpj-3020az萬(wàn)濠投影儀cpj-3020az萬(wàn)濠投影儀cpj-3020az
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3020AZ
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3025A
萬(wàn)濠投影儀cpj-3025a萬(wàn)濠投影儀cpj-3025a萬(wàn)濠投影儀cpj-3025a萬(wàn)濠投影儀cpj-3025a
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3025AZ
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3030A
萬(wàn)濠投影儀cpj-3030a萬(wàn)濠投影儀cpj-3030a萬(wàn)濠投影儀cpj-3030a萬(wàn)濠投影儀cpj-3030a萬(wàn)濠投影儀cpj-3030a
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3030AZ
萬(wàn)濠投影儀cpj-3030az萬(wàn)濠投影儀cpj-3030az萬(wàn)濠投影儀cpj-3030az萬(wàn)濠投影儀cpj-3030az
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萬(wàn)濠投影儀CPJ-3040A
萬(wàn)濠投影儀cpj-3040a萬(wàn)濠投影儀cpj-3040a萬(wàn)濠投影儀cpj-3040a萬(wàn)濠投影儀cpj-3040a萬(wàn)濠投影儀cpj-3040a
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高精度投影儀，萬(wàn)濠投影儀CPJ-3040AZ
高精度投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀，萬(wàn)濠投影儀cpj-3040az
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德國(guó)Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測(cè)量來(lái)自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-07-26
德Optosol太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線(xiàn)敏感的探測(cè)器組成。 來(lái)自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線(xiàn)成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來(lái)的輻射。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)Optosol 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x
optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x，
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置，這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)OAI太陽(yáng)能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過(guò)濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó) D&S 發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1，是專(zhuān)門(mén)針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶(hù)提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)SONIX 晶圓檢測(cè)設(shè)備
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè)，tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-26
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來(lái)實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶(hù)方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2025-07-26
韓國(guó)Ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類(lèi)型。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó) MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類(lèi)型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
更新時(shí)間:2025-07-26
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)YXLON 高分辨率Ｘ射線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備
德國(guó) yxlon 高分辨率ｘ射線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測(cè)器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2025-07-26

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