光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
德國ThetaMetrisis  FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置,專為大學(xué)教育和研究實驗室設(shè)計,用于快速、準確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini,用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進行反射率和/或透射率測量。
更新時間:2025-07-26
德國ThetaMetrisis  FR-Pro  膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴展平臺。
更新時間:2025-07-26
德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具,全自動測繪涂層的厚度,基底適用于晶圓,掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準確地測量薄膜特性,比如厚度,折射系數(shù),均勻性,色度等,真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時間:2025-07-26
自動在線光學(xué)檢測儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個位置,但有三個位子是主要的:1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機之后,這是個典型的放置位置,因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的,如錫膏量不足可能會導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊,將檢測設(shè)備放置于貼片后
更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-1510G萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-1510F萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-2010G萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-2010F萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-2515G萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-2515F萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-3020G萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-3020F萬濠2.5次元
影像儀vms-3020f萬濠2.5次元影像儀vms-3020f萬濠2.5次元影像儀vms-3020f萬濠2.5次元
更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-4030G萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-4030F萬濠2.5次元
影像儀vms-4030f萬濠2.5次元影像儀vms-4030f萬濠2.5次元影像儀vms-4030f萬濠2.5次元影像儀vms-4030f萬濠2.5次元
更新時間:2025-07-26
萬濠全自動影像儀VMS-2515H影像測量儀
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更新時間:2025-07-26
萬濠全自動影像儀VMS-3020H影像測量儀
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更新時間:2025-07-26
萬濠全自動影像儀VMS-4030H影像測量儀
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更新時間:2025-07-26
落地式全自動影像儀VMS-5040H萬濠影像儀
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更新時間:2025-07-26
萬濠影像儀落地式半自動影像儀VMS-5040M
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3007
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3007Z
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3010
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3010Z
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015
內(nèi)選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015內(nèi)選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015內(nèi)選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015內(nèi)選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015Z
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015A
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3020A
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3020AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3025A
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3025AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3030A
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3030AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3040A
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更新時間:2025-07-26
高精度投影儀,萬濠投影儀CPJ-3040AZ
高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az
更新時間:2025-07-26
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀,用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎(chǔ)是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-07-26
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀,k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-07-26
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀,
更新時間:2025-07-26
美國OAI標(biāo)準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標(biāo)準太陽能模擬器,低成本,標(biāo)準太陽模擬器提供高度準直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置,這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-07-26
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-07-26
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1,是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的,ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-07-26
美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計的機型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測,tsv量測方面。
更新時間:2025-07-26
美國泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-07-26
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-07-26
韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-07-26
美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學(xué)特性,利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-07-26
半導(dǎo)體測試探針臺
半導(dǎo)體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時間:2025-07-26
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-07-26

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準物質(zhì) 生物試劑