光學測量儀產(chǎn)品及廠家

PSD-PF100-1A-0.5 電子除塵箱
電子除塵箱，可分水平送風和垂直送風兩大類。電子除塵箱采用初效過濾器和高效過濾器對進入操作區(qū)的空氣進行兩過濾，可使工作區(qū)域的潔凈度達到10、100。整體結構緊湊，外形美觀，箱體全鋼結構噴塑，操作臺面采用不銹鋼材質制造而成，經(jīng)久耐用？赏饨痈呒兊獨猓獨膺^濾組，使用萬向管進行定位吹掃？蛇x配自動選轉器（可正反轉動），便于均勻選轉。
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮提供非接觸厚度檢測服務租賃激光在線測厚儀
鳳鳴亮提供非接觸厚度檢測服務租賃激光在線測厚儀一,非接觸厚度測量服務本公司可以提供非接觸的對各種材料的板子進行厚度測量服務,可以租賃非接觸激光測厚儀.二,可以提供厚度在線檢測服務可以將需要檢測的產(chǎn)品發(fā)來檢測也可租賃測厚設備三,可以提供,非接觸測厚設備租借服務.
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮LTG-680型非接觸納米硅鋰電池片厚度激光在線檢測儀
鳳鳴亮ltg-680型非接觸納米硅鋰電池片厚度激光在線檢測儀具有，在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測厚功能，并且，這種設備對人與環(huán)境都無污染無傷害（無需作環(huán)評）測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、半導體材料晶片測厚，塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮LTG-680型非接觸半導體晶片厚度激光在線檢測儀
鳳鳴亮ltg-680型非接觸半導體晶片厚度激光在線檢測儀具有，在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測厚功能，并且，這種設備對人與環(huán)境都無污染無傷害（無需作環(huán)評）測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、半導體材料晶片測厚，塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮非接觸塑料薄膜激光膜厚儀
鳳鳴亮非接觸塑料薄膜激光膜厚儀采用激光光線照射成像技術，可以連續(xù)地，激光在線檢測涂層厚度，操作簡便，穩(wěn)定和準確率高，而且對環(huán)境無污染結人體無傷害的環(huán)保設備，根據(jù)多年來采集的參數(shù)，本公司建立了大量的數(shù)據(jù)模型幫助可以測量參數(shù)。預測模型的建立有利于簡化測量過程，有效降低了誤差。 深圳市鳳鳴亮科技有限公司的在線檢測系統(tǒng)，激光膜厚儀在線測厚系統(tǒng)，薄膜厚度檢測儀，即通
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮鋁蜂窩空心板非接觸在線厚度規(guī)精密檢測儀
鳳鳴亮鋁蜂窩空心板非接觸在線厚度規(guī)精密檢測儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，可精密測量鋁蜂窩空心板,帶材、卷材、板材的厚度，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗等生產(chǎn)線
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮非接觸鋼銅鋁板帶精密激光厚度儀
鳳鳴亮非接觸鋼銅鋁板帶精密激光厚度儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，可精密測量帶材、卷材、板材的厚度，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗等生產(chǎn)線
更新時間:2025-07-26
大口徑管道壁非接觸厚度激光精密檢測厚儀
大口徑管道壁非接觸厚度激光精密檢測厚儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，可精密測量帶材、管道的管壁厚，卷材、板材的厚度，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗等生產(chǎn)線
更新時間:2025-07-26
非接觸針織布料激光檢測厚儀
非接觸針織布料激光檢測厚儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能，可精密測量帶材、針織布、卷材、板材的厚度測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面是否平整沒有要求。
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮非接觸激光板材自動測厚與厚度分揀生產(chǎn)線
在對動態(tài)，非接觸，高精度在線測厚的市場中了解到，有一些用戶的產(chǎn)品是一張一張的厚度比較厚的板材，（比如：木板；脂膠板等）也需要動態(tài)，非接觸在線測厚。
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮LTG800軟質無紡布激光非接觸在線測厚儀
鳳鳴亮ltg800軟質無紡布激光非接觸在線測厚儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能，可精密測量帶材、卷材、板材的厚度測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面是否平整沒有要求。
更新時間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮LTG800大量程厚銅板帶激光非接觸在線測厚儀
深圳鳳鳴亮ltg800大量程厚銅板帶激光非接觸在線測厚儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能，可精密測量帶材、卷材、板材的厚度測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面是否平整沒有要求。
更新時間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮電池隔膜激光無損在線檢測儀透明薄膜非接觸測厚儀
激光在線測厚儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能，可精密測量帶材、卷材、板材的厚度可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,玻璃纖維膜、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面是否平整沒有要求。
更新時間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮手機液晶屏非接觸激光精密測厚儀
激光檢測厚儀具有在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗、拉彎矯、剪子等生產(chǎn)線
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮透明薄膜激光在線測厚儀金屬板帶非接觸檢測機
鳳鳴亮透明薄膜激光在線測厚儀金屬板帶非接觸檢測機具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜
更新時間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮防水卷材激光在線檢測儀鋼銅鋁板帶非接觸測厚儀
深圳鳳鳴亮防水卷材激光在線檢測儀鋼銅鋁板帶非接觸測厚儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜測量不受灰塵、振動等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結構和表面是否平整沒有要求。
更新時間:2025-07-26
鳳鳴亮壓延機用激光在線測厚儀鋼銅鋁板帶非接觸檢測機
激光檢測儀具有：在線，動態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗、拉彎矯、剪子等生產(chǎn)線
更新時間:2025-07-26
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:2025-07-26
德國NETZSCH 閃射法導熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設計獨特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2025-07-26
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2025-07-26
日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學教育和研究實驗室設計，用于快速、準確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進行反射率和/或透射率測量。
更新時間:2025-07-26
德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴展平臺。
更新時間:2025-07-26
德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具，全自動測繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準確地測量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時間:2025-07-26
自動在線光學檢測儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測設備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個位置，但有三個位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機之后，這是個典型的放置位置，因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會導致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測設備放置于貼片后
更新時間:2025-07-26
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-07-26
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-07-26
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2025-07-26
美國OAI標準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-07-26
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-07-26
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-07-26
美國SONIX 晶圓檢測設備
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-07-26
美國泰克TEK Keithley半導體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-07-26
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-07-26
韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-07-26
美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-07-26
半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2025-07-26
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-07-26
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-07-26
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-07-26
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-07-26
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-07-26
德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-07-26
日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-07-26
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-07-26
德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2025-07-26
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-07-26

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