光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

西安信捷供應(yīng)光學(xué)測(cè)量?jī)x器-相機(jī)鏡頭焦距測(cè)量裝置
設(shè)備的用途：相機(jī)鏡頭焦距、各種光學(xué)零件、部件及光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)研究及光學(xué)基本量的測(cè)定。
更新時(shí)間:2025-07-26
GB 7247.1-2012激光產(chǎn)品安全檢測(cè) 全自動(dòng)激光檢測(cè)分析儀 醫(yī)療器械檢測(cè)設(shè)備方案定制
全自動(dòng)激光檢測(cè)分析儀符合標(biāo)準(zhǔn)《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于醫(yī)療器械中醫(yī)用激光得分類檢測(cè)、激光輻射檢測(cè)、伴隨輻射檢測(cè)、允許照射量檢測(cè)、輻射量檢測(cè)等。采用觸摸屏控制和計(jì)算機(jī)軟件雙操作平臺(tái)，兩者可兼容操作也可獨(dú)立操作。
更新時(shí)間:2025-07-26
PSD-PF100-1A-0.5 電子除塵箱
電子除塵箱，可分水平送風(fēng)和垂直送風(fēng)兩大類。電子除塵箱采用初效過濾器和高效過濾器對(duì)進(jìn)入操作區(qū)的空氣進(jìn)行兩過濾，可使工作區(qū)域的潔凈度達(dá)到10、100。整體結(jié)構(gòu)緊湊，外形美觀，箱體全鋼結(jié)構(gòu)噴塑，操作臺(tái)面采用不銹鋼材質(zhì)制造而成，經(jīng)久耐用？赏饨痈呒兊?dú)，氮(dú)膺^濾組，使用萬向管進(jìn)行定位吹掃？蛇x配自動(dòng)選轉(zhuǎn)器（可正反轉(zhuǎn)動(dòng)），便于均勻選轉(zhuǎn)。
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮提供非接觸厚度檢測(cè)服務(wù)租賃激光在線測(cè)厚儀
鳳鳴亮提供非接觸厚度檢測(cè)服務(wù)租賃激光在線測(cè)厚儀一,非接觸厚度測(cè)量服務(wù)本公司可以提供非接觸的對(duì)各種材料的板子進(jìn)行厚度測(cè)量服務(wù),可以租賃非接觸激光測(cè)厚儀.二,可以提供厚度在線檢測(cè)服務(wù)可以將需要檢測(cè)的產(chǎn)品發(fā)來檢測(cè)也可租賃測(cè)厚設(shè)備三,可以提供,非接觸測(cè)厚設(shè)備租借服務(wù).
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮LTG-680型非接觸納米硅鋰電池片厚度激光在線檢測(cè)儀
鳳鳴亮ltg-680型非接觸納米硅鋰電池片厚度激光在線檢測(cè)儀具有，在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)厚功能，并且，這種設(shè)備對(duì)人與環(huán)境都無污染無傷害（無需作環(huán)評(píng)）測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、半導(dǎo)體材料晶片測(cè)厚，塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮LTG-680型非接觸半導(dǎo)體晶片厚度激光在線檢測(cè)儀
鳳鳴亮ltg-680型非接觸半導(dǎo)體晶片厚度激光在線檢測(cè)儀具有，在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)厚功能，并且，這種設(shè)備對(duì)人與環(huán)境都無污染無傷害（無需作環(huán)評(píng)）測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、半導(dǎo)體材料晶片測(cè)厚，塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮非接觸塑料薄膜激光膜厚儀
鳳鳴亮非接觸塑料薄膜激光膜厚儀采用激光光線照射成像技術(shù)，可以連續(xù)地，激光在線檢測(cè)涂層厚度，操作簡(jiǎn)便，穩(wěn)定和準(zhǔn)確率高，而且對(duì)環(huán)境無污染結(jié)人體無傷害的環(huán)保設(shè)備，根據(jù)多年來采集的參數(shù)，本公司建立了大量的數(shù)據(jù)模型幫助可以測(cè)量參數(shù)。預(yù)測(cè)模型的建立有利于簡(jiǎn)化測(cè)量過程，有效降低了誤差。 深圳市鳳鳴亮科技有限公司的在線檢測(cè)系統(tǒng)，激光膜厚儀在線測(cè)厚系統(tǒng)，薄膜厚度檢測(cè)儀，即通
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮鋁蜂窩空心板非接觸在線厚度規(guī)精密檢測(cè)儀
鳳鳴亮鋁蜂窩空心板非接觸在線厚度規(guī)精密檢測(cè)儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測(cè)量功能，可精密測(cè)量鋁蜂窩空心板,帶材、卷材、板材的厚度，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測(cè)厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮非接觸鋼銅鋁板帶精密激光厚度儀
鳳鳴亮非接觸鋼銅鋁板帶精密激光厚度儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測(cè)量功能，可精密測(cè)量帶材、卷材、板材的厚度，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測(cè)厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-26
大口徑管道壁非接觸厚度激光精密檢測(cè)厚儀
大口徑管道壁非接觸厚度激光精密檢測(cè)厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測(cè)量功能，可精密測(cè)量帶材、管道的管壁厚，卷材、板材的厚度，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測(cè)厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-26
非接觸針織布料激光檢測(cè)厚儀
非接觸針織布料激光檢測(cè)厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)量功能，可精密測(cè)量帶材、針織布、卷材、板材的厚度測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮非接觸激光板材自動(dòng)測(cè)厚與厚度分揀生產(chǎn)線
在對(duì)動(dòng)態(tài)，非接觸，高精度在線測(cè)厚的市場(chǎng)中了解到，有一些用戶的產(chǎn)品是一張一張的厚度比較厚的板材，（比如：木板；脂膠板等）也需要?jiǎng)討B(tài)，非接觸在線測(cè)厚。
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮LTG800軟質(zhì)無紡布激光非接觸在線測(cè)厚儀
鳳鳴亮ltg800軟質(zhì)無紡布激光非接觸在線測(cè)厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)量功能，可精密測(cè)量帶材、卷材、板材的厚度測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮LTG800大量程厚銅板帶激光非接觸在線測(cè)厚儀
深圳鳳鳴亮ltg800大量程厚銅板帶激光非接觸在線測(cè)厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)量功能，可精密測(cè)量帶材、卷材、板材的厚度測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮電池隔膜激光無損在線檢測(cè)儀透明薄膜非接觸測(cè)厚儀
激光在線測(cè)厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)量功能，可精密測(cè)量帶材、卷材、板材的厚度可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,玻璃纖維膜、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮手機(jī)液晶屏非接觸激光精密測(cè)厚儀
激光檢測(cè)厚儀具有在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測(cè)量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測(cè)厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗、拉彎矯、剪子等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮透明薄膜激光在線測(cè)厚儀金屬板帶非接觸檢測(cè)機(jī)
鳳鳴亮透明薄膜激光在線測(cè)厚儀金屬板帶非接觸檢測(cè)機(jī)具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)量功能測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜
更新時(shí)間:2025-07-26
深圳鳳鳴亮防水卷材激光在線檢測(cè)儀鋼銅鋁板帶非接觸測(cè)厚儀
深圳鳳鳴亮防水卷材激光在線檢測(cè)儀鋼銅鋁板帶非接觸測(cè)厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測(cè)量功能測(cè)量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜測(cè)量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對(duì)于被測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-26
鳳鳴亮壓延機(jī)用激光在線測(cè)厚儀鋼銅鋁板帶非接觸檢測(cè)機(jī)
激光檢測(cè)儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測(cè)量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測(cè)厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗、拉彎矯、剪子等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2025-07-26
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2025-07-26
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-26
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-pro 膜厚測(cè)量?jī)x 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具，全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時(shí)間:2025-07-26
自動(dòng)在線光學(xué)檢測(cè)儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測(cè)設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置，但有三個(gè)位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測(cè)放在錫膏印刷機(jī)之后，這是個(gè)典型的放置位置，因?yàn)楹芏嗳毕菔怯捎阱a膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會(huì)導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測(cè)設(shè)備放置于貼片后
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，用于測(cè)量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測(cè)量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-07-26
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x，
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó) D&S 發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1，是專門針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)SONIX 晶圓檢測(cè)設(shè)備
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè)，tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-26
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2025-07-26
韓國(guó)Ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó) MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
更新時(shí)間:2025-07-26
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-07-26
德國(guó)YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測(cè)設(shè)備
德國(guó) yxlon 高分辨率ｘ射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測(cè)器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó)RTI自動(dòng)特性圖示儀
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
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德國(guó)Klocke Nanotech 3D納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2025-07-26
日本A&D粒子計(jì)數(shù)器（粒度計(jì)）
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器（粒度計(jì)）sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
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美國(guó)Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó)filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-26
美國(guó) SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國(guó) sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
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