掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能,讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。
更新時(shí)間:2025-09-09
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測(cè)成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè),能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會(huì)對(duì)樣品造成損傷,不會(huì)影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時(shí)間:2025-09-09
Sema6A抗體
sema6a抗體,本公司作為國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室及國內(nèi)各大院校長期指定供應(yīng)商,質(zhì)量保證,價(jià)格低,抗體抗原,一抗二抗,單抗多抗,各種標(biāo)記抗體,蛋白多肽,期待您的來電!
更新時(shí)間:2025-09-09
TESCAN--場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 MIRA
ui新一代的mira場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著zui高的性價(jià)比。mira3的設(shè)計(jì)適用于各種各樣的sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用,例如:ebsd、wdx等分析。mira3場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時(shí)間:2025-09-09
鎢燈絲掃描電鏡 VEGA
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術(shù)優(yōu)勢(shì),包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng),內(nèi)置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-09-09
氨基脲鹽酸鹽,鹽酸氨脲,肼甲酰胺鹽酸鹽,Semicarbazide hydrochloride
生化試劑氨基脲鹽酸鹽,鹽酸氨脲,肼甲酰胺鹽酸鹽,semicarbazide hydrochloride現(xiàn)貨銷售,可先提供發(fā)票,到貨時(shí)間3-5天,產(chǎn)品詳細(xì)信息可咨詢?cè)诰客服!
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-09-08
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報(bào)告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時(shí)間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺(tái),通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺(tái),通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè),并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-09-08
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-09-08
德Neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì),采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì),完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí),由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源(thz-tds),也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-08
太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率
更新時(shí)間:2025-09-08
德國KSI  型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測(cè)下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-09-08
KSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無損檢測(cè),有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè),晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測(cè)時(shí)間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2025-09-08
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2025-09-08
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:2025-09-08
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:2025-09-08
日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社(jeol) 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時(shí)將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成,而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 7a (sema7a)
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 7a (sema7a)
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3c (sema3c)
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3f (sema3f)
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3e (sema3e)
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 4a (sema4a)
更新時(shí)間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3a (sema3a)
更新時(shí)間:2025-09-08
臂板蛋白4C(Sema4C)抗體
本公司為您提供:臂板蛋白4c(sema4c)抗體,公司主營菌種,細(xì)胞,抗體,試劑,耗材,實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等,更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服:13817240771
更新時(shí)間:2025-09-08
臂板蛋白3F(Sema3F)抗體
本公司為您提供:臂板蛋白3f(sema3f)抗體,公司主營菌種,細(xì)胞,抗體,試劑,耗材,實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等,更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服:13817240771
更新時(shí)間:2025-09-08
臂板蛋白3C(Sema3C)抗體
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更新時(shí)間:2025-09-08
臂板蛋白3A(Sema3A)抗體
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更新時(shí)間:2025-09-08
SEMA域4(SEMA4D)抗體
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更新時(shí)間:2025-09-08
人臂板蛋白4C(Sema 4C)ELISA Kit貨號(hào):SY-E15912h
human semaphorin 4c(sema 4c)elisa kit
更新時(shí)間:2025-09-08
人臂板蛋白3A(Sema 3A)ELISA Kit貨號(hào):SY-E15913h
human semaphorin 3a(sema 3a)elisa kit
更新時(shí)間:2025-09-08
Sema6A抗體
我公司銷售各種類抗體,產(chǎn)品數(shù)量多,產(chǎn)品齊全,抗體純化、抗體制備,提供權(quán)威技術(shù)支持。單克隆抗體制備、多克隆抗體制備、抗體標(biāo)記,歡迎來電咨詢:顆粒蛋白前體抗體
更新時(shí)間:2025-09-08
現(xiàn)貨熱賣  SEM-Cl 76513-69-4
更新時(shí)間:2025-09-08
飛納臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡
荷蘭飛納公司隆重推出第三代飛納臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡 phenom xl g3
更新時(shí)間:2025-09-08
蔡司電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)2022動(dòng)態(tài)已更新《采購/推薦》
蔡司電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)-多探頭測(cè)量機(jī)設(shè)備;工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描(ct)為您提供了quanxin的洞見,讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū),并且能夠在生產(chǎn)周期中對(duì)組件進(jìn)行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時(shí)間:2025-09-08
飛納臺(tái)式自動(dòng)化掃描電鏡大樣品室版
的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g3 平均成像時(shí)間僅為 40 秒,比市場(chǎng)上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì)最大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。專利設(shè)計(jì)的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全世界相對(duì)較快的放氣 / 裝載速度,并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
更新時(shí)間:2025-09-08
Anti-Sema6A,Sema6A抗體
anti-sema6a,sema6a抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-09-08
Anti-Sema7A/CD108,軸突生長因子CD108抗體
anti-sema7a/cd108,軸突生長因子cd108抗體。現(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-09-08
Anti-Sema3A,臂板蛋白3A抗體
anti-sema3a,臂板蛋白3a抗體,F(xiàn)貨供應(yīng),歡迎來電咨詢:15821073937 或咨詢公司在線q:1832659204,歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-09-08

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