掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家

日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2025-07-26
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-07-26
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-07-26
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-07-26
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-07-25
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-07-24
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-07-24
SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-07-23
SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-07-23
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。
更新時間:2025-07-22
日立冷場發(fā)射掃描電鏡
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。近年來，以materials integration為代表，其應用域及用途在不斷擴展，短時間內獲取大量數據，減輕作業(yè)負荷成為市場的一大需求。
更新時間:2025-07-22
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。
更新時間:2025-07-22
日立大型掃描電鏡
在以納米技術和生物技術為主的產業(yè)域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-07-22
日立大型掃描電鏡
對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-07-22
日立熱場發(fā)射掃描電鏡
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。
更新時間:2025-07-22
日立新型臺式掃描電鏡
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現(xiàn)更多功能？稍跇悠穫}內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現(xiàn)在可
更新時間:2025-07-22
日立新型臺式掃描電鏡
“regulus系列“是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-07-22
新型熱場發(fā)射掃描電鏡哪里有賣？
　日立全新一代熱場發(fā)射掃描電鏡su5000繼承了日立半導體行業(yè)掃描電鏡cd-sem高穩(wěn)定性和易操作的特點，不僅具有強大的觀察分析能力，同時具有全新的操作體驗。su5000既滿足了專業(yè)電鏡操作者對高分辨觀察和分析的需求，也滿足了電鏡初學者對高質量圖片的需求，是一臺操作簡便且功能強大的掃描電鏡。
更新時間:2025-07-18
場發(fā)射掃描電子顯微鏡行業(yè)領先
su8200 系列冷場掃描是日立高新經過多年潛心鉆研，巨額投入而研發(fā)出來的新一代革新性冷場電鏡，此系列掃描電鏡在完全秉承以往冷場發(fā)射掃描電鏡全部優(yōu)點
更新時間:2025-07-18
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時間:2025-07-18
新型高分辨場發(fā)射掃描電鏡性價比高
日立2011年新推出了它的后續(xù)機型----su8010，它繼承了s-4800的優(yōu)點，性能有進一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對于s-4800可以在更低的加速電壓下呈高分辨像，明顯提升了以往很難觀測的低原子序數樣品的觀測效果。
更新時間:2025-07-18
研究超大超重超高樣品的分析型掃描電鏡高性價比
研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡
更新時間:2025-07-18
掃描電子顯微鏡哪里有賣？
機寬度僅為55cm，體型小巧，具有3.0nm分辨率的高性能可變壓力掃描電鏡。
更新時間:2025-07-18
臺式掃描電子顯微鏡哪家好？
　日立臺式電鏡tm3030標配4分割背散射探測器,可采集來自四個不同方向的圖像信息,可以有四種成像模式。放大倍數可達6萬倍，數字放大可達24萬倍.標配大樣品艙，可容納最大樣品直徑70mm,厚度50mm。
更新時間:2025-07-18
高性能鎢燈絲掃描電鏡哪家強？
高畫質的鎢燈絲掃描電鏡, 圖象質量更進一步。
更新時間:2025-07-18
國儀量子高分辨率場發(fā)射掃描電鏡
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實現(xiàn)低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設計的人機交互方便操作，快速上手
更新時間:2025-07-18
國儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡
sem3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴展性，助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時間:2025-07-18
超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設計、高壓隧道技術（supertunnel）以及鏡筒工藝升，實現(xiàn)了低電壓分辨率的進一步提升。全新設計的樣品倉，擴展接口增加至16個，快速換樣倉大支持8寸晶圓（大直徑208 mm），大擴展應用范圍。高掃描模式和自動功能增強，帶來了更強的性能和更好的體驗。
更新時間:2025-07-18
聚焦離子束電子束雙束顯微鏡
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術（supertunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力。“承影”離子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機構，擁有24個擴展口，配置全面，自主可控，擴展性強，為您打造全能納米分析和加
更新時間:2025-07-18
多面掃描鏡
可實現(xiàn)大范圍、超高速、高精度與高重復性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉鏡包括電機與多面鏡，多面鏡具有多個反射面，并安裝在電動機的旋轉軸上。通過電機的旋轉，多面鏡可實現(xiàn)高速旋轉，從而實現(xiàn)大角度、高速的光束掃描。
更新時間:2025-07-16
Phenom MAPS 大面積圖像拼接
phenom maps 作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數據集，并直觀地組合和關聯(lián)多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數據。
更新時間:2025-07-14
ChemiSEM 彩色成像技術
飛納電鏡推出的 chemisem 技術，將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。
更新時間:2025-07-14
飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面，一鍵掃描更便捷掃描“形狀”自定義大樣品全景觀測高清圖像無錯位
更新時間:2025-07-14
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡chemiphase物相分析軟件更容易，更全面，更準確的物相分析
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-07-14
供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-07-14
供應日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-07-14
徠卡顯微鏡 dm2000 & dm2000 ledleica dm2000 & dm2000 led - 生物，醫(yī)療顯微鏡 生物，醫(yī)療顯微鏡 leica dm2000顯微鏡具有高模塊設計 和 高性能的熒光 ，因此可理想地用于 病理學、細胞學 ，以及其它復雜工作域。 為了滿足不同使用域的要求，leica dm2000可以配備 各種光學和對比度技術 。
更新時間:2025-07-12

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