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比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家
BSD-PSZSM分子篩比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預(yù)處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項國內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國際領(lǐng)先。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PH可燃?xì)怏w高壓吸附儀
3h-2000ph全自動高壓氣體吸附儀屬于研究級儀器,可以滿足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測試要求定制,可測試多種材料對不同氣體在不同壓力下的總吸附量,吸附常數(shù)等參數(shù),適用于分子篩、煤層氣、儲氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶。全不銹鋼氣路系統(tǒng),采用vcr硬連接,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS介孔SiO2比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預(yù)處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷海外,獲得多項國內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國際領(lǐng)先。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS粉末顆粒類藥物比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預(yù)處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM碳材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm型多孔碳材料比表面及孔徑分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS金屬有機(jī)骨架材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMMOFs材料比表面及微孔孔徑分析儀
3h-2000pm型mofs材料比表面及微孔孔徑分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS44站式多孔骨架材料比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps4型介孔mofs比表面及孔徑分析儀,具有4個樣品預(yù)處理脫氣站,4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMZIF材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm2型雙站式mofs比表面及孔徑分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMSOF材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM1碳纖維材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm型zif材料比表面及微孔分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM碳納米管材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm1碳納米管材料比表面及微孔分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔碳化硅材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型介孔材料比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硅基氣凝膠比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm1氣凝膠比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS石油基針狀焦比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型石油基針狀焦比表面積分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS粉末藥品比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型藥品比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS蒙脫石散粉末BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS1蒙脫石散粉末BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS2粉末硬脂酸鎂比表面積測定儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS1凹凸棒土BET比表面積測定儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
3H-2000TD-K發(fā)泡塑料孔隙率測定儀
3h-2000td系列發(fā)泡塑料孔隙率測定儀由計算機(jī)控制全自動運行的氣體膨脹真密度分析系統(tǒng),具有多項技術(shù)專利,獨創(chuàng)的測試方式,使其應(yīng)用領(lǐng)域較同類儀器更廣,能準(zhǔn)確測定粉體、塊狀固體、漿狀物質(zhì)、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率,適用于廣大研究機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
3H-2000TD-K食用面包孔隙率測定儀
3h-2000td系列食用面包孔隙率測定儀由計算機(jī)控制全自動運行的氣體膨脹真密度分析系統(tǒng),具有多項技術(shù)專利,獨創(chuàng)的測試方式,使其應(yīng)用領(lǐng)域較同類儀器更廣,能準(zhǔn)確測定粉體、塊狀固體、漿狀物質(zhì)、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率,適用于廣大研究機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔金屬顆粒比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔金屬顆粒比表面積分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS硅微粉比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型硅微粉比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS二氧化硅粉末比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM竹炭材料比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM果殼碳材料比表面積分析儀
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMα-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1α-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發(fā)、實驗要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PBPE電池隔膜孔徑分析儀
3h-2000pb pe電池隔膜孔徑分析儀,其基本原理為氣液排驅(qū)技術(shù)(泡壓法):給膜兩側(cè)施加壓力差,克服膜孔道內(nèi)的浸潤液的表面張力,驅(qū)動浸潤液通過孔道,依此獲得膜類材料的通孔孔喉的孔徑數(shù)據(jù) ,同時該方法也是astm薄膜測定的標(biāo)準(zhǔn)方法。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS二氧化鈦BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS金屬氧化物BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS無機(jī)非金屬BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔顆粒BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔吸附材料BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS植物纖維BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS車用漆碳酸鈣BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS活性白土BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS農(nóng)作物秸稈比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS介孔碳材料BET分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS碳酸鈣粉末BET分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS秸稈BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
該公司產(chǎn)品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS介孔碳材料BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS中藥材BET比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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