比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠(chǎng)家

分子篩比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。集裝閥門(mén)和管路設(shè)計(jì),模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
ZSM分子篩比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
可燃?xì)怏w高壓吸附儀
3h-2000ph全自動(dòng)高壓氣體吸附儀屬于研究級(jí)儀器,可以滿(mǎn)足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測(cè)試要求定制,可測(cè)試多種材料對(duì)不同氣體在不同壓力下的總吸附量,吸附常數(shù)等參數(shù),適用于分子篩、煤層氣、儲(chǔ)氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。全不銹鋼氣路系統(tǒng),采用vcr硬連接,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
介孔SiO2比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌,遠(yuǎn)銷(xiāo)海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
粉末顆粒類(lèi)藥物比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
碳材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm型多孔碳材料比表面及孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-05
金屬有機(jī)骨架材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
MOFs材料比表面及微孔孔徑分析儀
3h-2000pm型mofs材料比表面及微孔孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。
更新時(shí)間:2025-11-05