掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析掃描開爾文探頭可以測量 cpd(接觸電位差)值,評估半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)。測量不僅可以在樣品表面的單點進(jìn)行,還可以對整個表面進(jìn)行掃描。 功函數(shù)測量在半導(dǎo)體物理學(xué)中te別有用,因為它提供了被測材料費米級的位置。 配備光源的開爾文探頭可以檢測樣品的電子表面狀態(tài)。電子的表面狀態(tài)在電荷轉(zhuǎn)移中起著重要作用,這對光伏材料和光電化學(xué)尤其重要。
更新時間:2025-10-28