光學測量儀產品及廠家

影像儀VMS-3020F萬濠2.5次元
影像儀vms-3020f萬濠2.5次元影像儀vms-3020f萬濠2.5次元影像儀vms-3020f萬濠2.5次元
更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-4030G萬濠2.5次元
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更新時間:2025-07-26
影像儀VMS-4030F萬濠2.5次元
影像儀vms-4030f萬濠2.5次元影像儀vms-4030f萬濠2.5次元影像儀vms-4030f萬濠2.5次元影像儀vms-4030f萬濠2.5次元
更新時間:2025-07-26
萬濠全自動影像儀VMS-2515H影像測量儀
萬濠全自動影像儀vms-2515h影像測量儀萬濠全自動影像儀vms-2515h影像測量儀萬濠全自動影像儀vms-2515h影像測量儀萬濠全自動影像儀vms-2515h影像測量儀
更新時間:2025-07-26
萬濠全自動影像儀VMS-3020H影像測量儀
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更新時間:2025-07-26
萬濠全自動影像儀VMS-4030H影像測量儀
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更新時間:2025-07-26
落地式全自動影像儀VMS-5040H萬濠影像儀
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更新時間:2025-07-26
萬濠影像儀落地式半自動影像儀VMS-5040M
萬濠影像儀落地式半自動影像儀vms-5040m萬濠影像儀落地式半自動影像儀vms-5040m萬濠影像儀落地式半自動影像儀vms-5040m
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3007
萬濠投影儀cpj-3007萬濠投影儀cpj-3007萬濠投影儀cpj-3007萬濠投影儀cpj-3007
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3007Z
萬濠投影儀cpj-3007z萬濠投影儀cpj-3007z萬濠投影儀cpj-3007z萬濠投影儀cpj-3007z
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3010
萬濠投影儀cpj-3010萬濠投影儀cpj-3010萬濠投影儀cpj-3010萬濠投影儀cpj-3010萬濠投影儀cpj-3010
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3010Z
萬濠投影儀cpj-3010z萬濠投影儀cpj-3010z萬濠投影儀cpj-3010z萬濠投影儀cpj-3010z
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015
內選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015內選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015內選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015內選投影儀,萬濠投影儀cpj-3015
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015Z
萬濠投影儀cpj-3015z萬濠投影儀cpj-3015z萬濠投影儀cpj-3015z萬濠投影儀cpj-3015z
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015A
萬濠投影儀cpj-3015a萬濠投影儀cpj-3015a萬濠投影儀cpj-3015a萬濠投影儀cpj-3015a
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3015AZ
萬濠投影儀cpj-3015az萬濠投影儀cpj-3015az萬濠投影儀cpj-3015az萬濠投影儀cpj-3015az
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3020A
萬濠投影儀cpj-3020az萬濠投影儀cpj-3020az萬濠投影儀cpj-3020az萬濠投影儀cpj-3020az
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3020AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3025A
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3025AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3030A
萬濠投影儀cpj-3030a萬濠投影儀cpj-3030a萬濠投影儀cpj-3030a萬濠投影儀cpj-3030a萬濠投影儀cpj-3030a
更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3030AZ
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更新時間:2025-07-26
萬濠投影儀CPJ-3040A
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更新時間:2025-07-26
高精度投影儀,萬濠投影儀CPJ-3040AZ
高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az 1高精度投影儀,萬濠投影儀cpj-3040az
更新時間:2025-07-26
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀,用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-07-26
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀,k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-07-26
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀,
更新時間:2025-07-26
美國OAI標準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器,低成本,標準太陽模擬器提供高度準直,均勻的光,幾乎任何材料或產品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據配置,這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-07-26
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-07-26
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1,是專門針對測量物體的輻射率設計的,ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)?蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-07-26
美國SONIX 晶圓檢測設備
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型,主要應用在bond wafer,mems 內部空洞、離層檢測,tsv量測方面。
更新時間:2025-07-26
美國泰克TEK Keithley半導體參數分析儀
美國泰克tek keithley半導體參數分析儀4200a-scs ,加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內領先性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-07-26
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-07-26
韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:2025-07-26
美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學特性,利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-07-26
半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時間:2025-07-26
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-07-26
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術,可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-07-26
德國YXLON 高分辨率X射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器(標配) y.cheetah 高速平板探測器(標配)
更新時間:2025-07-26
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-07-26
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機型一樣,mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-07-26
德國Klocke Nanotech  3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-07-26
日本A&D粒子計數器(粒度計)
日本a&d粒子計數器(粒度計)sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-07-26
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-07-26
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-07-26
德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2025-07-26
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥,食品,農業(yè)和化學行業(yè)在內的所有行業(yè)的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-07-26
德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:2025-07-26
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-07-26

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