場發(fā)射掃描電鏡產品及廠家
jem-f200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的jem-f200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-06-07
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-06-07
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標準。
更新時間:2025-06-07
日立tm4000掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。tm4000優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。
更新時間:2025-06-06
· hexbias偏壓鎢燈絲電子槍； · 的高、低電壓性能； · 高靈敏度五分割背散射電子探測器； · 可變壓力二次電子探測器（高、低真空可用）； · 的操作界面和光鏡導航功能；
更新時間:2025-06-06
現(xiàn)有機型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。"regulus系列"繼承了現(xiàn)有機型的觀察和分析性能，配備su8200系列的低噪音冷場發(fā)射電子槍*1，可以獲得高穩(wěn)定的束流。
更新時間:2025-06-06
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-06-06
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2025-06-06
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發(fā)射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機型，于5月20日開始
更新時間:2025-06-06
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。
更新時間:2025-06-06
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經(jīng)過實地驗證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術以及肖特基熱場發(fā)射電子槍技術。
更新時間:2025-06-06
日立高新超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術（1.3nm/1.0kv），信號探測系統(tǒng)范圍廣，可操作性強，便于用戶操作等。
更新時間:2025-06-06
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時間:2025-06-06
、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監(jiān)測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-06-06
日立發(fā)布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現(xiàn)自動球差校正，haadf-stem分辨率可以達到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經(jīng)過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......hf5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
更新時間:2025-06-06
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產品ruli tem，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。ht7800系列產品有兩個型號ht7800和ht7830。
更新時間:2025-06-06
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現(xiàn)更多功能？稍跇悠穫}內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗尋找目標位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-06-06
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。 而且，su7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級電鏡控制系統(tǒng)，大幅提高了信號獲取速度，由此實現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時間:2025-06-06
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡，標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品
更新時間:2025-06-06
在以納米技術和生物技術為主的產業(yè)領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-06-06
日本電子jsm-7100f獨特的高強力電子光學系統(tǒng)能保證1.2nm 的超高分辨率，能很容易地進行納米結構的研究。
更新時間:2025-06-05
日本電子jsm-7001f熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡（thermal field emission sem），是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。0755-3150
更新時間:2025-06-05
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。tescan的獨特技術是基于一個完全集成的edx系統(tǒng)，能以非？斓乃俣葓(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實現(xiàn)了以前所未有的采集速度完全自動化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準確和可靠的結果
更新時間:2025-06-05
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗已超過60年，其技術先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。zeiss不斷追求、推出新的技術和新的產品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2025-06-05
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場發(fā)射電鏡。該場發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學系統(tǒng)設計，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學設計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準的匹配您的應用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結構、薄膜、涂層和多層的圖像信息！炯夹g參數(shù)】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-06-05
日立l型fib-sem-ar三束系統(tǒng)nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現(xiàn)特定顯微切片的三維結構分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結構，而不是常見的對角構造。
更新時間:2025-06-05
日立高分辨型雙束系統(tǒng)nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細加工。
更新時間:2025-06-05
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡su3900采用超大的樣品倉和多接口設計，適合超大樣品的觀察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同
更新時間:2025-06-05
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡su3800采用全新的hexbias偏壓技術，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得su3800的觀察能力進一步提升。
更新時間:2025-06-05
日立透射電鏡ht7820 繼承了標準版ht7800高速cmos熒光屏相機設計、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點和創(chuàng)新點，仍然采用第二代雙隙物鏡的設計，設計使用高分辨物鏡，標配lab6燈絲，性能實現(xiàn)突破性提升。
更新時間:2025-06-05
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-06-05
【hitachi】日立新型臺式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗尋找目標位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-06-05
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時滿足軟材料/納米材料類和生命科學類客戶對電鏡的需求。
更新時間:2025-06-05
【hitachi】su9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時間:2025-06-05
【hitachi】冷場發(fā)射掃描電鏡regulus8100易維護、易操作等優(yōu)點，進一步提高性能，1kv減速模式下最高分辨率達到了0.8nm，15kv達到0.7nm，高低電壓均可滿足高分辨的觀察。
更新時間:2025-06-05
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。
更新時間:2025-06-05
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