原子力顯微鏡(atomic force microscopy)是種以物理學原理為基礎,通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光,后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
alpha300 ra –在一個系統(tǒng)里面集成化學成分分析和納米級別的結(jié)構(gòu)成像alpha300 ra 是市場上首個高度集成的拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng),可以在標準的alpha 300r共聚焦拉曼系統(tǒng)上通過標準模塊升級即可完成拉曼原子力系統(tǒng)聯(lián)用,獲得原位的afm和raman圖像的疊加。alpha300 ra 獨特的設計理念使聯(lián)用系統(tǒng)既保留300r強大的化學組分分析能力,同時加入微納級別的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能對樣品進行深度完善的分析和理解。
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原子力顯微鏡中r-afm100包括了需要的afm 掃描配置:樣品臺、控制箱、探針、使用手冊和一個視頻顯微鏡。樣品尺寸:2.54x2.54x0.64cm標準掃描模式:振動式、非振動式、相位成像、側(cè)向力模式掃描器:50x50x17μ m 和15x15x7μ m視頻光學顯微鏡:放大倍數(shù)400x,分辨率2μ m