掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家

德國(guó)KSI 型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
德國(guó)ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-06-07
KSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無(wú)損檢測(cè)，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè)，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測(cè)時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2025-06-07
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2025-06-07
德國(guó)KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:2025-06-07
德國(guó)ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國(guó)zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-06-07
日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開(kāi)發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開(kāi)始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開(kāi)發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-06-07
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-06-07
德Neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國(guó)neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-06-07
太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率
更新時(shí)間:2025-06-07
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:2025-06-07
Anti-Sema6A,Sema6A抗體
anti-sema6a,sema6a抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-06-06
Anti-Sema7A/CD108,軸突生長(zhǎng)因子CD108抗體
anti-sema7a/cd108,軸突生長(zhǎng)因子cd108抗體。現(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-06-06
Anti-Sema3A,臂板蛋白3A抗體
anti-sema3a,臂板蛋白3a抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-06-06
Anti-Sema4C,臂板蛋白4C抗體
anti-sema4c,臂板蛋白4c抗體。現(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-06-06
Anti-Sema3F,臂板蛋白3F抗體
anti-sema3f,臂板蛋白3f抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-06-06
多面掃描鏡
可實(shí)現(xiàn)大范圍、超高速、高精度與高重復(fù)性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉(zhuǎn)鏡包括電機(jī)與多面鏡，多面鏡具有多個(gè)反射面，并安裝在電動(dòng)機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上。通過(guò)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)，多面鏡可實(shí)現(xiàn)高速旋轉(zhuǎn)，從而實(shí)現(xiàn)大角度、高速的光束掃描。
更新時(shí)間:2025-06-06
19329-67-0,半二甲酚橙/半二甲酚桔黃/3-[N,N-二（羧甲基）氨甲基]鄰甲酚磺酞/Sem
目前公司集售前、售中、售后服務(wù)為一體,竭誠(chéng)為您提供行內(nèi)最全,的產(chǎn)品信息,我們將通過(guò)快遞,及時(shí)將貨品送達(dá)地址! 期待您的來(lái)電！
更新時(shí)間:2025-06-06
衛(wèi)矛醇半固體瓊脂/Dulcitol Semisolid Agar
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更新時(shí)間:2025-06-06
V-P半固體瓊脂/Voges-Proskauer Semisolid Agar
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更新時(shí)間:2025-06-06
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-06-06
臺(tái)式掃描電子顯微鏡
zem15掃描速度快，信號(hào)采集帶寬10m，可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng)，體積小巧，便于移動(dòng)，可出差攜帶，安裝無(wú)需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電就可工作。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立大型掃描電鏡
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺(tái)能對(duì)應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此，對(duì)超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立中型掃描電鏡
1) 支持超大/超重樣品測(cè)試 (2)支持大視野觀察　(3) 通過(guò)自動(dòng)化功能提高操作性能
更新時(shí)間:2025-06-06
新型臺(tái)式掃描電鏡
“tm4000”和“tm4000plus”可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過(guò)程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。
更新時(shí)間:2025-06-06
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開(kāi)發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新掃描電子顯微鏡
立高新技術(shù)公司于2016年4月15日在全球發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡-flexsem 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時(shí)操作極其簡(jiǎn)便，幾乎不用培訓(xùn)就可操作。緊湊型設(shè)計(jì)，分辨率為4 nm。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新臺(tái)式顯微鏡
2014年8月4日，日立高新推出新款臺(tái)式電鏡tm3030plus。tm3030plus配置了高靈敏度的探測(cè)器，可以在低真空狀態(tài)下觀察二次電子圖像，并且無(wú)需樣品制備即可進(jìn)行實(shí)時(shí)二次電子成像。
更新時(shí)間:2025-06-06
掃描電子顯微鏡
該設(shè)備具有新研制的電子光學(xué)系統(tǒng)和自動(dòng)化功能，是一款用戶友好型掃描電子顯微鏡。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新臺(tái)式顯微鏡
tm3030臺(tái)式顯微鏡采用標(biāo)準(zhǔn)電源插座，可在任何時(shí)候成像。僅在使用時(shí)需要電源，這是一款節(jié)約能源，生態(tài)友好型系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新掃描電子顯微鏡
日立高新掃描電子顯微鏡su1510 結(jié)構(gòu)緊湊，性能高。與現(xiàn)有型號(hào)相比，減少了20%的體積。標(biāo)配可變壓力模式。保證30 kv電壓時(shí)，二次電子3.0 nm的分辨率，背散射電子4.0 nm（6帕），可滿足直徑153 mm，高60 mm的樣品，采用tmp真空系統(tǒng)，節(jié)省占地面積和電源功耗。
更新時(shí)間:2025-06-06
分析可變壓力掃描電子顯微鏡
該顯微鏡采用可變壓力（vp）技術(shù)，除了具有高分辨率成像和樣品物性表征特性外，還支持x 射線能譜儀， x射線波譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)進(jìn)行各種樣品分析。在可變壓力模式下，操作者可改變樣品室的真空狀態(tài)由高真空狀態(tài)改為低真空狀態(tài)。
更新時(shí)間:2025-06-06
日立臺(tái)式大氣壓掃描電鏡
* 含水樣品也無(wú)需前處理即可在大氣壓下進(jìn)行sem觀察* 從低真空到大氣壓（數(shù) pa～105 pa），可在大范圍壓力下進(jìn)行sem觀察* 標(biāo)準(zhǔn)搭載es-corrector（電子束散射校正）圖像改善功能* 在真空模式下，除了通常的sem觀察之外，還可進(jìn)行edx分析（選配）* 主機(jī)采用330 mm寬度的小型設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)節(jié)省空間和高便利性* 無(wú)需等待抽真空時(shí)間，快速實(shí)現(xiàn)從搭載樣品到觀察圖像
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新掃描電子顯微鏡
日立高新高畫(huà)質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡su3500, 圖象質(zhì)量更進(jìn)一步。通過(guò)高畫(huà)質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進(jìn)科技“獨(dú)具匠心”。日立高新鎢燈絲掃描電鏡su3500具有實(shí)現(xiàn)了“3kv加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”
更新時(shí)間:2025-06-06
聚焦離子束&電子束裝置
hitachi´s high performance fib-sem provides unparalleled nano-analyses of devices and functional materials !!
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新臺(tái)式掃描電子顯微鏡TM3000/TM3030專用能譜儀Quantax70
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡(jiǎn)單，使用壽命長(zhǎng)3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進(jìn)口陶氏反滲透膜和陶氏樹(shù)脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進(jìn)水要求
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU-70
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡(jiǎn)單，使用壽命長(zhǎng)3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進(jìn)口陶氏反滲透膜和陶氏樹(shù)脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進(jìn)水要求
更新時(shí)間:2025-06-06
SU6600分析可變壓力掃描電子顯微鏡
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡(jiǎn)單，使用壽命長(zhǎng)3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進(jìn)口陶氏反滲透膜和陶氏樹(shù)脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進(jìn)水要求
更新時(shí)間:2025-06-06
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑