偏光顯微鏡產(chǎn)品及廠家

STM7 奧林巴斯光學(xué)測量顯微鏡
stm7測量顯微鏡系列采用了歷代奧林巴斯的技術(shù)，并借鑒了長達(dá)一個(gè)多世紀(jì)顯微鏡研發(fā)和50多年測量顯微鏡研發(fā)的經(jīng)驗(yàn)，品質(zhì)值得信賴。• 的光學(xué)技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)極細(xì)微樣品的逼真成像。• 的測量技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的測量。
更新時(shí)間:2025-06-06
BX53 BX43 CX33 CX43 奧林巴斯正置顯微鏡
整個(gè)光路設(shè)計(jì)用于優(yōu)化熒光成像，使用在度和清晰度方面設(shè)置了新標(biāo)準(zhǔn)的uis2組件。高質(zhì)量的鏡組鍍膜提供了的傳輸性和陡峭的截止，為獲得良好的靈敏度和色彩分離，從內(nèi)表面排除了幾乎所有雜散光。其它特性進(jìn)一步方便了熒光顯微鏡觀察，包括可以傳送均勻照明的新型復(fù)眼透鏡系統(tǒng)，以及自動(dòng)放大倍率和濾色片鏡組讀數(shù)功能，簡化了反復(fù)設(shè)置。此外，bx53半電動(dòng)熒光顯微鏡使成像成為可能。自動(dòng)化能夠功能實(shí)現(xiàn)大區(qū)域的高放大倍率成像，還方便了多彩熒光成像。
更新時(shí)間:2025-06-06
奧林巴斯偏光顯微鏡BX53-P
使用uis2無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)和獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)組合的奧林巴斯bx53-p偏光顯微鏡在偏光應(yīng)用時(shí)提供了的性能？蓴U(kuò)展的補(bǔ)償器使bx53-p有足夠多的功能來處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀察和測量應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-06
Leica徠卡偏光顯微鏡DM750P
教師用來教學(xué)的時(shí)間越多，學(xué)生就可以學(xué)到更多。leica偏光顯微鏡dm750p是為了革新地球科研教學(xué)以及實(shí)現(xiàn)在地球和材料科學(xué)課程上有更多動(dòng)手操作時(shí)間而專門開發(fā)的。利用適合學(xué)生使用的眾多特點(diǎn)和高質(zhì)量構(gòu)造，leicadm750p成為激發(fā)巖相學(xué)、結(jié)晶學(xué)和材料科學(xué)學(xué)習(xí)和教育下一代科學(xué)家的好工具。
更新時(shí)間:2025-06-06
奧林巴斯偏光顯微鏡BX51-P
能夠?qū)崿F(xiàn)小光學(xué)失真的偏振光用物鏡achn-p、uplfln-p系列產(chǎn)品中選擇所需產(chǎn)品。uplfln-p系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發(fā)的熒光觀察的通用物鏡，能應(yīng)對(duì)包含偏振光觀察的多種研究和檢查。
更新時(shí)間:2025-06-06
奧林巴斯偏光顯微鏡CX31P
奧林巴斯偏光顯微鏡cx31-p是一種高質(zhì)量的偏光顯微鏡，具有多種功能和的耐久性。光學(xué)性能能夠滿足眾多應(yīng)用需求，從透明標(biāo)本結(jié)構(gòu)和特性的雙折射檢查，到巖石、纖維、高分子和新材料的復(fù)雜分析。
更新時(shí)間:2025-06-06
Leica徠卡偏光顯微鏡DM750P參數(shù)圖片報(bào)價(jià)
教師用來教學(xué)的時(shí)間越多，學(xué)生就可以學(xué)到更多。leica偏光顯微鏡dm750p是為了革新地球科研教學(xué)以及實(shí)現(xiàn)在地球和材料科學(xué)課程上有更多動(dòng)手操作時(shí)間而專門開發(fā)的。利用適合學(xué)生使用的眾多特點(diǎn)和高質(zhì)量構(gòu)造，leica dm750p成為激發(fā)巖相學(xué)、結(jié)晶學(xué)和材料科學(xué)學(xué)習(xí)和教育下一代科學(xué)家的好工具。
更新時(shí)間:2025-06-06
BX53-P奧林巴斯偏光顯微鏡參數(shù)圖片報(bào)價(jià)
使用uis2無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)和獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)組合的奧林巴斯bx53-p偏光顯微鏡在偏光應(yīng)用時(shí)提供了的性能？蓴U(kuò)展的補(bǔ)償器使bx53-p有足夠多的功能來處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀察和測量應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-06
DM750 P Leica DM4 P正置偏光顯微鏡
leica dm4 p正置偏光顯微鏡將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)
更新時(shí)間:2025-06-06

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