能源產(chǎn)品及廠家
手持式電能質(zhì)量分析儀廠家：具有多種功能，如諧波分析、功率因數(shù)測(cè)量、電壓波動(dòng)和閃變測(cè)量等。通過(guò)這些功能，用戶可以了解電力系統(tǒng)的電能質(zhì)量狀況，發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題，并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行改進(jìn)。
更新時(shí)間:2025-07-25
戶外便攜式iv測(cè)試儀是一種便攜式設(shè)備，主要用于現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)試光伏組件的電流-電壓（iv）特性曲線。通過(guò)測(cè)量光伏組件在不同光照和溫度條件下的電流和電壓值，可以評(píng)估組件的光電轉(zhuǎn)換效率、.大功率點(diǎn)、填充因子等關(guān)鍵參數(shù)，從而判斷組件的性能狀況和潛在問(wèn)題。
更新時(shí)間:2025-07-25
光伏電站便攜式iv功率測(cè)試儀確保測(cè)試儀的電池電量充足，準(zhǔn)備好測(cè)試所需的連接線、適配器等附件。同時(shí)，了解測(cè)試儀的基本操作和功能，確保能夠正確使用。根據(jù)測(cè)試要求，設(shè)置測(cè)試的環(huán)境溫度、光照強(qiáng)度、掃描電壓范圍等參數(shù)。這些參數(shù)的設(shè)置將影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
更新時(shí)間:2025-07-25
便攜式iv曲線測(cè)試儀用戶可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到計(jì)算機(jī)或其他設(shè)備上進(jìn)行進(jìn)一步的分析和處理。通過(guò)分析iv曲線和功率輸出數(shù)據(jù)，可以評(píng)估光伏組件的性能和發(fā)電效率，以及發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題和故障。
更新時(shí)間:2025-07-25
三相電能質(zhì)量測(cè)試儀是一種用于測(cè)量和分析三相電力系統(tǒng)電能質(zhì)量的設(shè)備。它可以對(duì)電力系統(tǒng)的電壓、電流、頻率、功率因數(shù)、諧波等參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和分析，從而評(píng)估電力系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
更新時(shí)間:2025-07-25
便攜式el檢測(cè)儀設(shè)備能夠檢測(cè)出光伏組件的隱裂、斷柵、熱斑、熱點(diǎn)、電池片接觸不良等隱蔽缺陷，以及組件內(nèi)部的直流質(zhì)量問(wèn)題，幫助運(yùn)維人員及時(shí)發(fā)現(xiàn)并處理潛在問(wèn)題。該設(shè)備體積小巧、重量輕，便于攜帶至現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行巡檢。
更新時(shí)間:2025-07-25
便攜式光伏組件測(cè)試儀搭載有智能數(shù)據(jù)分析功能，能夠自動(dòng)對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，識(shí)別異常情況，并生成詳細(xì)的檢測(cè)報(bào)告。支持無(wú)線操作和數(shù)據(jù)傳輸，使得檢測(cè)儀的使用更加便捷。用戶可以通過(guò)wi-fi、藍(lán)牙等無(wú)線方式將檢測(cè)數(shù)據(jù)傳輸至電腦或移動(dòng)設(shè)備上進(jìn)行查看和分析。
更新時(shí)間:2025-07-25
光伏板隱裂快速檢測(cè)儀具備較高的環(huán)境適應(yīng)性，能夠在各種復(fù)雜環(huán)境下進(jìn)行工作，如沙漠、高原、屋頂、丘陵、山坡等多種地形和氣候條件。并且，它通常還具備多種安全防護(hù)措施，如短路保護(hù)、斷路保護(hù)、電流倒灌保護(hù)、過(guò)熱保護(hù)等，以確保設(shè)備和人員的安全。
更新時(shí)間:2025-07-25
光伏電站現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)儀定期對(duì)組件進(jìn)行測(cè)試，及時(shí)發(fā)現(xiàn)性能異常的組件；監(jiān)測(cè)太陽(yáng)輻射、溫度等環(huán)境參數(shù)，優(yōu)化電站的運(yùn)行策略；進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，確保電氣安全。利用紅外熱成像儀快速定位故障組件，提高檢測(cè)效率和準(zhǔn)確性。
更新時(shí)間:2025-07-25
太陽(yáng)能電池板測(cè)試儀通常配備無(wú)線通信模塊，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸和監(jiān)控。運(yùn)維人員可以隨時(shí)隨地通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)訪問(wèn)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，監(jiān)控電站狀態(tài)，提高管理效率。更加注重自動(dòng)化和智能化，減少人工操作的誤差和繁瑣，提高測(cè)試效率和精度。
更新時(shí)間:2025-07-25
太陽(yáng)能光伏el檢測(cè)儀可以全.面評(píng)估組件的質(zhì)量和性能。通過(guò)檢測(cè)組件的電致發(fā)光圖像，可以識(shí)別出轉(zhuǎn)換效率不同的單片電池，幫助制造商了解組件的實(shí)際發(fā)電能力，進(jìn)而優(yōu)化設(shè)計(jì)和提高整體組件的性能。
更新時(shí)間:2025-07-25
光伏用組串電源將光伏組件產(chǎn)生的直流電（dc）轉(zhuǎn)換為交流電（ac），或直接以直流形式供給負(fù)載使用，是光伏發(fā)電系統(tǒng)中不.可或缺的組成部分。組串電源不僅實(shí)現(xiàn)了電能的初步轉(zhuǎn)換，還通過(guò)智能控制算法，優(yōu)化電能的分配與管理，確保整個(gè)光伏系統(tǒng)的穩(wěn)定高效運(yùn)行。
更新時(shí)間:2025-07-25
便攜式el檢測(cè)儀：光伏組件在生產(chǎn)過(guò)程中，難免會(huì)出現(xiàn)各種缺陷，如裂紋、雜質(zhì)等。傳統(tǒng)的檢測(cè)方法往往耗時(shí)耗力，且難以發(fā)現(xiàn)所有缺陷。而el缺陷檢測(cè)儀能夠快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)出組件內(nèi)部的缺陷，幫助生產(chǎn)企業(yè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，提高生產(chǎn)效率。
更新時(shí)間:2025-07-25
探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制部探測(cè)
更新時(shí)間:2025-07-25
探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制部探針（射頻或直流探針），精準(zhǔn)扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。華測(cè)系列探針臺(tái)可滿足i-v/c-v，piv測(cè)試，光電測(cè)試等，外形輕盈，cao作方便，價(jià)
更新時(shí)間:2025-07-25
華測(cè) 雙面探針臺(tái)型號(hào)：huace-8d華測(cè)雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和pcb板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定
更新時(shí)間:2025-07-25
華測(cè) 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)型號(hào)：huace-8華測(cè)綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可用于晶圓和pcb板測(cè)試，大可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試、操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)、可滿足晶片測(cè)試、光電
更新時(shí)間:2025-07-25
華測(cè)高低溫探針臺(tái)大可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試，采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜，該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升功能？蓮V
更新時(shí)間:2025-07-25
華測(cè)高低溫真空探針臺(tái)可滿足i-v/c-v，piv測(cè)試，光電測(cè)試等，外形輕盈，cao作方便，價(jià)格實(shí)惠；探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制部探針（射頻或直流探針），精準(zhǔn)扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需
更新時(shí)間:2025-07-25
高溫介電溫譜測(cè)試儀運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。過(guò)壓、過(guò)電流、超溫等異常
更新時(shí)間:2025-07-25
高溫介電溫譜測(cè)試儀運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。過(guò)壓、過(guò)電流、超溫等異常
更新時(shí)間:2025-07-25
一、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)jian測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量
更新時(shí)間:2025-07-25
一、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)jian測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量
更新時(shí)間:2025-07-25
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%nh4cl），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（ct1）和耐電痕化指數(shù)（pt1）。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、
更新時(shí)間:2025-07-25
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%nh4cl），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（ct1）和耐電痕化指數(shù)（pt1）。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、
更新時(shí)間:2025-07-25
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%nh4cl），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（ct1）和耐電痕化指數(shù)（pt1）。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、漏電起痕測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-25
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%nh4cl），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（ct1）和耐電痕化指數(shù)（pt1）。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、漏電起痕測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-25
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%nh4cl），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（ct1）和耐電痕化指數(shù)（pt1）。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、耐電痕化指數(shù)
更新時(shí)間:2025-07-25
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介： 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，d31, d15, 電容
更新時(shí)間:2025-07-25
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介： 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2025-07-25
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介： 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2025-07-25
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介： 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2025-07-25
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器，真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2025-07-25
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器，真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2025-07-25
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2025-07-25
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2025-07-25
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
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高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
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高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
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高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
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高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2025-07-25
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器，高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
更新時(shí)間:2025-07-25
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器，高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
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一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器，高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
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一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器，高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
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本儀器采用利用fpga任意信號(hào)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用進(jìn)口激振器，以實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。本儀器適合廣大科研院所研究壓電材料必要可少的儀器
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huace fe系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目市場(chǎng)上zuixian進(jìn)的設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在shi界鐵電測(cè)試域高測(cè)試精度能力shou屈一指。在內(nèi)置±10v電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500khz；此系統(tǒng)包含huacepro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kv、10kv、20kv， huace fe主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、iv、cv擊穿
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