能源產(chǎn)品及廠家

相對(duì)滲透率測(cè)定儀簡(jiǎn)介使用方法哪家好哪個(gè)廠家好
穩(wěn)態(tài)法測(cè)定氣水相對(duì)滲透率是將氣水安一定流量比例同時(shí)恒速注入巖心,當(dāng)進(jìn)出口壓力及氣水流量穩(wěn)定時(shí),巖樣的含水飽和度分布也已穩(wěn)定,測(cè)定進(jìn)出口壓力及氣水流量,用稱重法測(cè)定巖樣含水質(zhì)量,便可氣水有效滲透率和相對(duì)滲透率以及巖樣的含水飽和度,并繪制氣水相對(duì)滲透率與含水飽和度關(guān)系曲線。
更新時(shí)間:2025-11-05
巖心流動(dòng)試驗(yàn)儀簡(jiǎn)介批發(fā)簡(jiǎn)介廠商品牌市場(chǎng)價(jià)格哪個(gè)廠家好
使用該儀器可對(duì)以下物性參數(shù)進(jìn)行測(cè)定:1.氣體滲透率測(cè)定;2.氣體孔隙度測(cè)定;3.非穩(wěn)態(tài)法氣液相對(duì)滲透率測(cè)定4.非穩(wěn)態(tài)法油、水相對(duì)滲率測(cè)定;5.提高采收率研究 水驅(qū)、化學(xué)驅(qū)(膠凝劑、聚合物、三元復(fù)合驅(qū))、微生物驅(qū)6.地層敏感性評(píng)價(jià);7.采油工藝研究,酸化、堵水、調(diào)剖;8.反向驅(qū)替和系列流體接觸試驗(yàn)評(píng)價(jià)鉆井液、完井液對(duì)巖心的影響;9.液體滲透率、長(zhǎng)巖心梯度流動(dòng);10.co2吞吐、混相驅(qū)、氣驅(qū)、泡沫驅(qū)。
更新時(shí)間:2025-11-05
液氮鉆取機(jī)簡(jiǎn)介圖片型號(hào)技術(shù)參數(shù)特點(diǎn)廠家哪個(gè)廠家好
適合于鉆、擴(kuò)、鉸、銑削等加工作業(yè),突出體現(xiàn)于鉆孔能力
更新時(shí)間:2025-11-05
EA-EL 9000 B 2Q系列電子負(fù)載
為所謂的“兩象限操作”而設(shè)計(jì)的ea-el 9000 b 2q系列電子負(fù)載,可以結(jié)合ea-ps 9000, ea-psi 90000與ea-pse 9000系列起操作。該負(fù)載系列特 別關(guān)注輸出電壓改變時(shí)的動(dòng)態(tài)變化
更新時(shí)間:2025-11-05
EA-EL 9000 DT系列小型電子負(fù)載
ea-el 9000 dt系列是款新的小型電子負(fù)載,由 ea-el 9000 t系列擴(kuò)展出來(lái)的10款新型號(hào),組裝于 桌面式外殼內(nèi)。它提供新的電壓、電流與功率,適 合實(shí)驗(yàn)室、學(xué);蜍囬g日常的眾多應(yīng)用。所有型號(hào)都有四種操作模式:恒壓(cv),恒流 (cc),恒功率(cp)和恒阻(cr)。
更新時(shí)間:2025-11-05
HMDS真空烤箱,全自動(dòng)HMDS預(yù)處理系統(tǒng)
hmds真空烤箱,全自動(dòng)hmds預(yù)處理系統(tǒng)通過(guò)對(duì)烤箱預(yù)處理過(guò)程的工作溫度、處理時(shí)間、處理時(shí)保持時(shí)間等參數(shù)可以在硅片、基片表面均勻涂布一層hmds,降低了hmds處理后的硅片接觸角,降低了光刻膠的用量,提高光刻膠與硅片的黏附性。
更新時(shí)間:2025-11-05
HMDS烤箱機(jī)臺(tái),HMDS預(yù)處理烘箱
hmds烤箱機(jī)臺(tái),hmds預(yù)處理烘箱箱體外殼采用高級(jí)不銹鋼制作,內(nèi)膽為316l醫(yī)用專用不銹鋼材料制成;加熱器均勻分布在內(nèi)膽外壁四周,內(nèi)膽內(nèi)無(wú)任何電氣配件及易燃易爆裝置。鋼化、防彈雙層玻璃門觀察工作室內(nèi)物體一目了然。
更新時(shí)間:2025-11-05
硅片光刻預(yù)處理系統(tǒng),芯片hmds烘箱
硅片光刻預(yù)處理系統(tǒng),芯片hmds烘箱用于芯片、晶圓、硅片等半導(dǎo)體在光刻前對(duì)wafer進(jìn)行預(yù)處理,在高溫高真空的狀態(tài)下均勻噴灑霧狀“oap”藥液并在氮?dú)獗Wo(hù)下烘干以增強(qiáng)wafer的光刻性能。通過(guò)對(duì)烤箱預(yù)處理過(guò)程的工作溫度、處理時(shí)間、處理時(shí)保持時(shí)間等參數(shù)可以在硅片、基片表面均勻涂布一層hmds,降低了hmds處理后的硅片接觸角,降低了光刻膠的用量,提高光刻膠與硅片的黏附性。
更新時(shí)間:2025-11-05
氮?dú)饪鞠洌Ъ?jí)潔凈烤箱
氮?dú)饪鞠,千?jí)潔凈烤箱適用于電子液晶顯示、lcd、cmos、ic、醫(yī)藥、實(shí)驗(yàn)室等生產(chǎn)及科研部門 ;led封裝膠水固化,銀膠固化,支架烘干,前固化,后固化;晶圓光刻前烘(軟烘)、后烘(硬烘)、堅(jiān)膜烘烤。也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其它高溫試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-11-05
智能型HMDS烤箱定做,不銹鋼HMDS烘箱
智能型hmds烤箱定做,不銹鋼hmds烘箱預(yù)處理性能更好,更加均勻;效率高,一次可以處理多達(dá)4盒的晶片;更加節(jié)省藥液;低液報(bào)警、防藥液泄漏等具有很強(qiáng)的安全保護(hù)功能;,有可自動(dòng)吸取添加hmds功能,智能型的程式設(shè)定,一鍵完成作業(yè)。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
華測(cè) 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)型號(hào):huace-8華測(cè)綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可用于晶圓和pcb板測(cè)試,大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試、操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn)、可滿足晶片測(cè)試、光電
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高低溫探針臺(tái)
華測(cè)高低溫探針臺(tái)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試,采用密閉腔結(jié)構(gòu),屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜,該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng),穩(wěn)定的結(jié)構(gòu),符合人體工程學(xué),以及多項(xiàng)升功能?蓮V
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高低溫真空探針臺(tái)
華測(cè)高低溫真空探針臺(tái)可滿足i-v/c-v,piv測(cè)試,光電測(cè)試等,外形輕盈,cao作方便,價(jià)格實(shí)惠;探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,x-y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕,控制部探針(射頻或直流探針),精準(zhǔn)扎到被測(cè)點(diǎn),從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 高低溫介電溫譜儀
高溫介電溫譜測(cè)試儀運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。過(guò)壓、過(guò)電流、超溫等異常
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 高溫介電溫譜儀
高溫介電溫譜測(cè)試儀運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó)a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。過(guò)壓、過(guò)電流、超溫等異常
更新時(shí)間:2025-11-05
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
一、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)jian測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 2024 功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)  國(guó)產(chǎn)新品
一、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)jian測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  鋰電池隔膜50點(diǎn)電法測(cè)試儀   50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀
一、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)jian測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 低壓漏電起痕測(cè)試儀
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  2024 低壓漏電起痕測(cè)試儀
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)   低壓漏電起痕測(cè)試儀  固體絕緣材料
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、漏電起痕測(cè)試
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)   低壓漏電起痕測(cè)試儀  固體絕緣材料測(cè)試
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、漏電起痕測(cè)試
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)   低壓漏電起痕測(cè)試儀  固體絕緣材料測(cè)試  電痕化指數(shù)
hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、耐電痕化指數(shù)
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,d31, d15, 電容
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  2024 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  2024 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀 D33
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  2024 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀 D33 D31
一、壓電系數(shù)d33測(cè)試簡(jiǎn)介: 壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外,還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的性能參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。 可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能,用于鐵電、壓電材料以及相
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 2024 高壓化電源   機(jī)箱式高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)。可遙控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。高壓放大器的需求越來(lái)越
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高壓極化電源   機(jī)箱式高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)。可遙控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高壓極化電源   一體機(jī)箱式高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高壓極化電源   一體機(jī)箱式高壓電源  直流高壓電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高壓化電源   一體機(jī)箱式高壓電源  高壓直流電源
華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)。可遙控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料jian測(cè)。 高壓放大器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為高壓及波形輸出。需求越來(lái)越大越來(lái)越多。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  多通道塊體極化裝置
多通道塊體極化裝置huace hv-10一、產(chǎn)品介紹huace hv-10 壓電材料kuai極化裝置借鑒guo際zuixian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極,并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。設(shè)備在技術(shù)指標(biāo)wan全可替代進(jìn)口設(shè)備,屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  多通道極化裝置
多通道塊體極化裝置huace hv-10一、產(chǎn)品介紹huace hv-10 壓電材料kuai極化裝置借鑒guo際zuixian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極,并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。設(shè)備在技術(shù)指標(biāo)wan全可替代進(jìn)口設(shè)備,屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新。
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  十通道塊體極化裝置
多通道塊體極化裝置huace hv-10一、產(chǎn)品介紹huace hv-10 壓電材料kuai極化裝置借鑒guo際zuixian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極,并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。設(shè)備在技術(shù)指標(biāo)wan全可替代進(jìn)口設(shè)備,屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新。
更新時(shí)間:2025-11-05
高低溫冷熱臺(tái)
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高低溫冷熱臺(tái)
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高低溫冷熱臺(tái)  全xin升
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)  高低溫冷熱臺(tái)  溫控探針臺(tái)
高低溫冷熱臺(tái)一、概述 huace650t高低溫冷熱臺(tái)在借鑒guo際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過(guò)進(jìn)口儀器,真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) TSDC熱刺激電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) TSDC熱激勵(lì)電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) TSDC熱激發(fā)化電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) TSC 熱刺激電流測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) TSDC 熱刺激測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
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華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 高低溫絕緣電阻測(cè)試儀
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀   近紅外爐
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀   近紅外反射爐
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè)    近紅外反射爐
高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
更新時(shí)間:2025-11-05
華測(cè) 多通道介電測(cè)試系統(tǒng)
一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
更新時(shí)間:2025-11-05

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