其他產(chǎn)品及廠家

控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-06-09
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 Emmc5 上電時(shí)序測試
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-06-09
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試，眼圖測試
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-06-09
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2025-06-09
復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-06-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號(hào)質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-06-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-06-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對差分信號(hào)，其中16對petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-06-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-06-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個(gè)是type00h配置請求，另個(gè)是type 01h配置請求。
更新時(shí)間:2025-06-09
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-06-09
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-06-09
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-06-09
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號(hào)波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-06-09
陰極保護(hù)監(jiān)測儀SD-21
陰極保護(hù)監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-06-09
美國Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器（ct）提供準(zhǔn)確，無損（非接觸）的單或重復(fù)單或雙的測量 脈沖或連續(xù)波。
更新時(shí)間:2025-06-09
美國FCC電流探頭
低頻脈沖注入型號(hào)為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭，這些探頭能感應(yīng)耦合上升時(shí)間為 5ns 及半個(gè)脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號(hào)，當(dāng)用于監(jiān)測探頭時(shí)可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時(shí)間:2025-06-09
美國FCC電流鉗
特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新時(shí)間:2025-06-09
英國PEM 低頻羅氏線圈LFR
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差，超寬的頻帶范圍，使其可以測量被測信號(hào)的400次諧波（@45/65hz）。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應(yīng)曲線，有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔，使其有著更寬的動(dòng)態(tài)測試范圍.
更新時(shí)間:2025-06-09
英國PEM交流電流探頭RCTi系列
rcti是工業(yè)級(jí)專用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線圈輸出實(shí)時(shí)的與測量電流相對應(yīng)的電壓。
更新時(shí)間:2025-06-09
英國PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟(jì)實(shí)用，使用簡單，性價(jià)比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu)：纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán)，讓您輕而易舉地與實(shí)際測量對象相連接。
更新時(shí)間:2025-06-09
耳酷靈聽力篩查儀
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時(shí)間:2025-06-09
表面粗糙度儀
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測，該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點(diǎn)，更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢。
更新時(shí)間:2025-06-09
防腐層撿漏儀北京廠家
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6（a/b）型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05～10mm，輸出電壓:0.6kv～30kv,dj-6(a)檢測厚度：0.03～1.5mm，輸出高壓：600v～8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器，使用本儀器可以對不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層，進(jìn)行質(zhì)量檢測。
更新時(shí)間:2025-06-09
日本強(qiáng)力Kanetec高斯計(jì)TM-801EXP
日本強(qiáng)力kanetec高斯計(jì)tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變，但是實(shí)現(xiàn)了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測量器
更新時(shí)間:2025-06-08
高溫介電溫譜測量系統(tǒng)
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電
更新時(shí)間:2025-06-08
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超g
更新時(shí)間:2025-06-08
耐漏電起痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
漏電起痕指數(shù)CTI測試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
高壓漏電檢測儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
耐電痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
科力達(dá)天越實(shí)景放樣RTK
靜態(tài)cnss測量水平： ±(2.5+0.5×10-6 d)mm （d為所測量的基線長度）高程：±(5.0+0.5×10-6 d)mm（d為所測量的基線長度）實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)測量水平：±(8+1×10-6 d)mm 高程：±(15+1×10-6 d)mm
更新時(shí)間:2025-06-08
彩屏觸摸屏1″全站儀科力達(dá)KTS-491R10L
類型 windows ce 6.0中文操作系統(tǒng) cpu intel pxa310處理器，主頻806mhz 內(nèi)存 128mb ddr,512mb nandflash
更新時(shí)間:2025-06-08
徠卡DISTO? X6激光測距儀
儀器型號(hào)：disto? x6測量范圍：0.05m-250m測量精度：±1mm
更新時(shí)間:2025-06-08
彩途K72B北斗手持GPS
彩途k72b 采用新代gnss芯片設(shè)計(jì)，可以支持北斗、gps、glonass單獨(dú)或組合使用；四螺旋天線設(shè)計(jì)，采集迅速；開放的地圖架構(gòu)，內(nèi)置地圖，支持用戶自制矢量地圖、影像和各類柵格地圖
更新時(shí)間:2025-06-08
彩途K82B北斗手持GPS
2.83”半反半透彩色顯示屏，視野開闊，分辨率于同類產(chǎn)品，畫面細(xì)膩；支持鋰電池與aa電池供電方式，適合野外長時(shí)間工作;產(chǎn)品三防設(shè)計(jì)，可漂浮水面
更新時(shí)間:2025-06-08
千尋星矩srmini是千尋位置新推出的小型rtk設(shè)備，標(biāo)配千尋知寸5星16頻服務(wù)，同時(shí)具備新型無網(wǎng)絡(luò)測量功能，真正實(shí)現(xiàn)隨用隨測，兼具慣導(dǎo)、電臺(tái)功能，是一款小、輕、便攜的云端一體rtk。
更新時(shí)間:2025-06-08
華測K80工程測量RTK
624通道，支持北斗全星座，支持北斗三代衛(wèi)星
更新時(shí)間:2025-06-08
華測K90視覺放樣測量RTK
精靈k90視覺放樣rtk，集成了華測視覺放樣技術(shù)，精靈k90口袋慣導(dǎo)rtk的小巧輕便，干活不累。
更新時(shí)間:2025-06-08
集思寶G6單北斗數(shù)據(jù)采集手持機(jī)
集思寶g6手持機(jī)配3.2寸高亮度觸摸屏及實(shí)體按鍵，操作簡便。內(nèi)置四核高效處理器，保障高效運(yùn)算的同時(shí)降低功耗，同時(shí)搭載大容量鋰電池，支持長時(shí)間工作。此外g6內(nèi)置8g還支持tf卡擴(kuò)展，滿足海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需求，并內(nèi)置高精度電子羅盤和氣壓計(jì)，支持氣壓測高，有效提升高程測量精度。
更新時(shí)間:2025-06-08
智圖GISA S10安卓版測量GPS平板
gisa s10選用android 7.0操作系統(tǒng)，64位四核處理器，高性能cpu，支持重力傳感器，大容量存儲(chǔ)，配備4200mah鋰電池保證長時(shí)間外業(yè)工作
更新時(shí)間:2025-06-08
智圖H60安卓版平板測量GPS
智圖h60高精度gps平板，支持多星多頻gnss采集模塊， 運(yùn)行安卓8.1系統(tǒng)，搭載八核cpu操作體驗(yàn)。ip67工藝機(jī)身無懼水濺和防塵。厚度僅僅為13mm，工業(yè)平板的輕靈之美。
更新時(shí)間:2025-06-08
集思寶G138BD北斗手持采集GPS
接收：北斗b1、gps l1、glonass l1支持sbas通 道 數(shù)：72類 型：gps/北斗/gps+glonass/gps+北斗精 度：單點(diǎn)：2-5m　　　　sbas：1-3m
更新時(shí)間:2025-06-08
集思寶G639安卓版手持GPS
系統(tǒng)版本基于android 7.0 定制系統(tǒng)處 理 器驍龍4核處理器通 道 數(shù)72天線類型螺旋天線精度 單點(diǎn)：2-5m；sbas：1-3m
更新時(shí)間:2025-06-08
中海達(dá)V300實(shí)景放樣RTK
通道數(shù) ：1408操作系統(tǒng):linux操作系統(tǒng)rtk平面精度:±（8+1×10-6d）mm；高程精度：±（15+1×10-6d）mm
更新時(shí)間:2025-06-08
集思寶G659Plus安卓版手持GPS
衛(wèi)星接收：bds b1，gps l1，glonass g1，galileo e1，qzss l1，支持北斗3全球信號(hào)接收通 道 數(shù)：136天線類型：螺旋天線定位精度：單點(diǎn)定位:2m，dgnss:0.5m，rtk:0.1m更新頻率：1hz
更新時(shí)間:2025-06-08

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