其他產(chǎn)品及廠家

英國(guó)PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測(cè)量中經(jīng)濟(jì)實(shí)用,使用簡(jiǎn)單,性價(jià)比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu):纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán),讓您輕而易舉地與實(shí)際測(cè)量對(duì)象相連接。
更新時(shí)間:2025-06-09
耳酷靈聽(tīng)力篩查儀
力篩查是通過(guò)耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽(tīng)性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測(cè),在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無(wú)創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查(oae/abr)的新版本聽(tīng)力篩查儀,具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴(lài)的聽(tīng)篩產(chǎn)品之一,耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時(shí)間:2025-06-09
表面粗糙度儀
美國(guó)lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國(guó)lee公司新出的新一代粗糙度儀,也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍寬、操作簡(jiǎn)便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn),可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測(cè),該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀,具有手持式特點(diǎn),更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì),堅(jiān)固耐用,抗電磁干擾能力顯著,符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢(shì)。
更新時(shí)間:2025-06-09
防腐層撿漏儀北京廠家
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6(a/b)型電火花檢漏儀檢測(cè)厚度:0.05~10mm,輸出電壓:0.6kv~30kv,dj-6(a)檢測(cè)厚度:0.03~1.5mm,輸出高壓:600v~8000v 是用于檢測(cè)金屬防腐涂層質(zhì)量的專(zhuān)用儀器,使用本儀器可以對(duì)不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層,進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-06-09
爐溫測(cè)試儀回流焊波峰焊爐溫溫度記錄儀GX62
超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-09
超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-09
24通道無(wú)線溫度驗(yàn)證儀,爐溫測(cè)試儀供應(yīng)
超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-09
布瑞得無(wú)線爐溫測(cè)試儀記錄儀GX20
布瑞得無(wú)線爐溫測(cè)試儀記錄儀gx20
更新時(shí)間:2025-06-09
SMT布瑞得爐溫曲線測(cè)試儀GX16
smt布瑞得爐溫曲線測(cè)試儀gx16
更新時(shí)間:2025-06-09
爐溫追蹤儀爐溫測(cè)試儀Bathrive_GX12
爐溫追蹤儀爐溫測(cè)試儀bathrive_gx12
更新時(shí)間:2025-06-09
布瑞得Bathrive GX10無(wú)線爐溫測(cè)試儀爐溫監(jiān)控儀
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無(wú)線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線傳輸,讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí),無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
更新時(shí)間:2025-06-09
布瑞得Bathrive GX10B隧道爐爐溫測(cè)試儀
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無(wú)線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線傳輸,讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí),無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
更新時(shí)間:2025-06-09
6通道/9通道/12通道 溫度驗(yàn)證儀,爐溫測(cè)試儀供應(yīng)
lim 系列爐溫測(cè)試儀一款革命性的測(cè)試儀器,F(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時(shí)在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項(xiàng)目,給予使用者帶來(lái)更為輕松的工作需求。
更新時(shí)間:2025-06-09
SMT爐溫測(cè)試儀,美國(guó)布瑞得進(jìn)口爐溫測(cè)試儀
產(chǎn)品用途:用來(lái)對(duì)各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測(cè)量.長(zhǎng)時(shí)間溫度監(jiān)控.溫度曲線測(cè)繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍:smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測(cè)量的行業(yè)
更新時(shí)間:2025-06-09
kic爐溫測(cè)試儀報(bào)價(jià),SMT爐溫測(cè)試儀,爐溫測(cè)試儀供應(yīng)商,7通道爐溫測(cè)試儀
kic explorer爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:kic型號(hào):explorer 7ch測(cè)量范圍:內(nèi)部操作溫度0-85(℃)測(cè)溫分辨率:0.1℃測(cè)溫精度:+/-1.2℃外形尺寸:200.0×60.0×17.0(mm)裝箱數(shù):1
更新時(shí)間:2025-06-09
KIC 爐溫測(cè)試儀
kic2000爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:美國(guó)kic型號(hào):kic2000測(cè)量范圍:-50-1050(℃)測(cè)溫分辨率:0.1℃外形尺寸:320*86*26(mm)裝箱數(shù):1
更新時(shí)間:2025-06-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具,硬件測(cè)試,ddr測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-06-09
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2025-06-09
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-06-09
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-06-09
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過(guò)軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問(wèn)題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來(lái)說(shuō),只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-06-09
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-06-09
出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具
出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具
更新時(shí)間:2025-06-09
日本強(qiáng)力Kanetec高斯計(jì)TM-801EXP
日本強(qiáng)力kanetec高斯計(jì)tm-801exp產(chǎn)品說(shuō)明:tm-701的容易使用性能沒(méi)有改變,但是實(shí)現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量器
更新時(shí)間:2025-06-08
高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)
高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電
更新時(shí)間:2025-06-08
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超g
更新時(shí)間:2025-06-08
耐漏電起痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
漏電起痕指數(shù)CTI測(cè)試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
高壓漏電檢測(cè)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
耐電痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
科力達(dá)天越實(shí)景放樣RTK
靜態(tài)cnss測(cè)量水平: ±(2.5+0.5×10-6 d)mm (d為所測(cè)量的基線長(zhǎng)度)高程:±(5.0+0.5×10-6 d)mm(d為所測(cè)量的基線長(zhǎng)度)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)測(cè)量水平:±(8+1×10-6 d)mm 高程:±(15+1×10-6 d)mm
更新時(shí)間:2025-06-08
彩屏觸摸屏1″全站儀科力達(dá)KTS-491R10L
類(lèi)型 windows ce 6.0中文操作系統(tǒng) cpu intel pxa310處理器,主頻806mhz 內(nèi)存 128mb ddr,512mb nandflash
更新時(shí)間:2025-06-08
徠卡DISTO? X6激光測(cè)距儀
儀器型號(hào):disto? x6測(cè)量范圍:0.05m-250m測(cè)量精度:±1mm
更新時(shí)間:2025-06-08
彩途K72B北斗手持GPS
彩途k72b 采用新代gnss芯片設(shè)計(jì),可以支持北斗、gps、glonass單獨(dú)或組合使用;四螺旋天線設(shè)計(jì),采集迅速;開(kāi)放的地圖架構(gòu),內(nèi)置地圖,支持用戶自制矢量地圖、影像和各類(lèi)柵格地圖
更新時(shí)間:2025-06-08
彩途K82B北斗手持GPS
2.83”半反半透彩色顯示屏,視野開(kāi)闊,分辨率于同類(lèi)產(chǎn)品,畫(huà)面細(xì)膩;支持鋰電池與aa電池供電方式,適合野外長(zhǎng)時(shí)間工作;產(chǎn)品三防設(shè)計(jì),可漂浮水面
更新時(shí)間:2025-06-08
千尋星矩srmini是千尋位置新推出的小型rtk設(shè)備,標(biāo)配千尋知寸5星16頻服務(wù),同時(shí)具備新型無(wú)網(wǎng)絡(luò)測(cè)量功能,真正實(shí)現(xiàn)隨用隨測(cè),兼具慣導(dǎo)、電臺(tái)功能,是一款小、輕、便攜的云端一體rtk。
更新時(shí)間:2025-06-08
華測(cè)K80工程測(cè)量RTK
624通道,支持北斗全星座,支持北斗三代衛(wèi)星
更新時(shí)間:2025-06-08
華測(cè)K90視覺(jué)放樣測(cè)量RTK
精靈k90視覺(jué)放樣rtk,集成了華測(cè)視覺(jué)放樣技術(shù),精靈k90口袋慣導(dǎo)rtk的小巧輕便,干活不累。
更新時(shí)間:2025-06-08
集思寶G6單北斗數(shù)據(jù)采集手持機(jī)
集思寶g6手持機(jī)配3.2寸高亮度觸摸屏及實(shí)體按鍵,操作簡(jiǎn)便。內(nèi)置四核高效處理器,保障高效運(yùn)算的同時(shí)降低功耗,同時(shí)搭載大容量鋰電池,支持長(zhǎng)時(shí)間工作。此外g6內(nèi)置8g還支持tf卡擴(kuò)展,滿足海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需求,并內(nèi)置高精度電子羅盤(pán)和氣壓計(jì),支持氣壓測(cè)高,有效提升高程測(cè)量精度。
更新時(shí)間:2025-06-08
智圖GISA S10安卓版測(cè)量GPS平板
gisa s10選用android 7.0操作系統(tǒng),64位四核處理器,高性能cpu,支持重力傳感器,大容量存儲(chǔ),配備4200mah鋰電池保證長(zhǎng)時(shí)間外業(yè)工作
更新時(shí)間:2025-06-08

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