其他產(chǎn)品及廠(chǎng)家
pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠(chǎng)商，而device id代表這個(gè)廠(chǎng)商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-06-09
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-06-09
陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀sd-21用于測(cè)量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無(wú)誤的測(cè)量出來(lái)。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-06-09
magnelab電流互感器（ct）提供準(zhǔn)確，無(wú)損（非接觸）的單或重復(fù)單或雙的測(cè)量 脈沖或連續(xù)波。
更新時(shí)間:2025-06-09
低頻脈沖注入型號(hào)為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測(cè)探頭，這些探頭能感應(yīng)耦合上升時(shí)間為 5ns 及半個(gè)脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號(hào)，當(dāng)用于監(jiān)測(cè)探頭時(shí)可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時(shí)間:2025-06-09
特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新時(shí)間:2025-06-09
pem 低頻羅氏線(xiàn)圈-lfr系列是理想的電低頻流測(cè)試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差，超寬的頻帶范圍，使其可以測(cè)量被測(cè)信號(hào)的400次諧波（@45/65hz）。 低頻羅氏線(xiàn)圈--lfr對(duì)電流幅度的響應(yīng)曲線(xiàn)，有著高的線(xiàn)性度。配備有10:1的電流開(kāi)關(guān)檔，使其有著更寬的動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍.
更新時(shí)間:2025-06-09
rcti是工業(yè)級(jí)專(zhuān)用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線(xiàn)圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線(xiàn)圈輸出實(shí)時(shí)的與測(cè)量電流相對(duì)應(yīng)的電壓。
更新時(shí)間:2025-06-09
dcflex系列電流探頭在功率電子測(cè)量中經(jīng)濟(jì)實(shí)用，使用簡(jiǎn)單，性?xún)r(jià)比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu)：纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán)，讓您輕而易舉地與實(shí)際測(cè)量對(duì)象相連接。
更新時(shí)間:2025-06-09
力篩查是通過(guò)耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽(tīng)性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測(cè)，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀(guān)、快速和無(wú)創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽(tīng)力篩查儀，具有快速、準(zhǔn)確、直觀(guān)的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴(lài)的聽(tīng)篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時(shí)間:2025-06-09
出租agilent usb3.0測(cè)試夾具u7242-26401
更新時(shí)間:2025-06-09
美國(guó)lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國(guó)lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍寬、操作簡(jiǎn)便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測(cè)，該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點(diǎn)，更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢(shì)。
更新時(shí)間:2025-06-09
防腐層撿漏儀北京廠(chǎng)家 dj-6（a/b）型電火花檢漏儀檢測(cè)厚度:0.05～10mm，輸出電壓:0.6kv～30kv,dj-6(a)檢測(cè)厚度：0.03～1.5mm，輸出高壓：600v～8000v 是用于檢測(cè)金屬防腐涂層質(zhì)量的專(zhuān)用儀器，使用本儀器可以對(duì)不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層，進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-06-09
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-09
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-09
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-09
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無(wú)線(xiàn)實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿(mǎn)足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線(xiàn)傳輸，讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無(wú)線(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
更新時(shí)間:2025-06-09
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無(wú)線(xiàn)實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿(mǎn)足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線(xiàn)傳輸，讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無(wú)線(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
更新時(shí)間:2025-06-09
lim 系列爐溫測(cè)試儀一款革命性的測(cè)試儀器，F(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時(shí)在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線(xiàn)應(yīng)用項(xiàng)目，給予使用者帶來(lái)更為輕松的工作需求。
更新時(shí)間:2025-06-09
產(chǎn)品用途：用來(lái)對(duì)各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測(cè)量.長(zhǎng)時(shí)間溫度監(jiān)控.溫度曲線(xiàn)測(cè)繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測(cè)量的行業(yè)
更新時(shí)間:2025-06-09
kic explorer爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：kic型號(hào)：explorer 7ch測(cè)量范圍：內(nèi)部操作溫度0-85（℃）測(cè)溫分辨率：0.1℃測(cè)溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數(shù)：1
更新時(shí)間:2025-06-09
kic2000爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國(guó)kic型號(hào)：kic2000測(cè)量范圍：-50-1050（℃）測(cè)溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1
更新時(shí)間:2025-06-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-06-09
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線(xiàn)上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
更新時(shí)間:2025-06-09
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-06-09
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-06-09
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過(guò)軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-06-09
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-06-09
日本強(qiáng)力kanetec高斯計(jì)tm-801exp產(chǎn)品說(shuō)明:tm-701的容易使用性能沒(méi)有改變，但是實(shí)現(xiàn)了性能的大幅度提高！輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量器
更新時(shí)間:2025-06-08
高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線(xiàn)纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電
更新時(shí)間:2025-06-08
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超g
更新時(shí)間:2025-06-08
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
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hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門(mén)子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開(kāi)關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過(guò)的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-06-08
靜態(tài)cnss測(cè)量水平： ±(2.5+0.5×10-6 d)mm （d為所測(cè)量的基線(xiàn)長(zhǎng)度）高程：±(5.0+0.5×10-6 d)mm（d為所測(cè)量的基線(xiàn)長(zhǎng)度）實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)測(cè)量水平：±(8+1×10-6 d)mm 高程：±(15+1×10-6 d)mm
更新時(shí)間:2025-06-08
類(lèi)型 windows ce 6.0中文操作系統(tǒng) cpu intel pxa310處理器，主頻806mhz 內(nèi)存 128mb ddr,512mb nandflash
更新時(shí)間:2025-06-08
最新產(chǎn)品
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