其他產(chǎn)品及廠家

pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-10
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-10
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-10
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-09-10
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-09-10
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-10
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-10
梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-09-10
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-09-10
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-09-10
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-09-10
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2025-09-10
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-09-10
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時間:2025-09-10
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-09-10
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-09-10
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-09-10
ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-09-10
Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-09-10
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-09-10
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-09-10
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-09-10
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-09-10
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-09-10
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-09-10
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-09-10
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進入相應(yīng)模式需要的時序：
更新時間:2025-09-10
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-09-10
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-09-10
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-09-10
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-09-10
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-09-10
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2025-09-10
氙弧燈老化試驗箱，氙孤燈老化箱參數(shù)，
一、產(chǎn)品概述本產(chǎn)品是以氙燈為光源，模擬和強化耐候性加速光老化的試驗設(shè)備，以快速獲得近大氣老化的試驗結(jié)果，用來評價材料的耐候性。
更新時間:2025-09-10
TSY-32氙弧燈老化試驗箱，老化箱，
　氙弧燈耐氣候試驗機采用能摸擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗。desn型氙燈試驗箱可用于新材料的選擇、改進現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產(chǎn)生的變化。
更新時間:2025-09-10
TSY-33糙面土工膜毛糙高度測定儀，土工膜高度測定儀現(xiàn)貨，
依據(jù)gb/t17643-2001標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，主要適用于糙面土工膜及其相關(guān)產(chǎn)品的厚度測量，具有使用方便，測量精度高等優(yōu)點
更新時間:2025-09-10
糙面土工膜毛糙高度測定儀，土工膜測定儀參數(shù)，
依據(jù)gb/t17643-2001標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，主要適用于糙面土工膜及其相關(guān)產(chǎn)品的厚度測量，具有使用方便，測量精度高等優(yōu)點。
更新時間:2025-09-10
土工膜脹破強度測定儀，土工膜破強，度測定儀
依據(jù)sl/t235-2012土工合成材料測試規(guī)程土工膜漲破強度的試驗方法標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)設(shè)計。適用于各類土工膜漲破強度的測量，性能穩(wěn)定，方便使用。技術(shù)參數(shù)：
更新時間:2025-09-10
TSY-35塑料薄膜和薄片測厚儀，塑料薄膜測定儀參數(shù)，
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-10
土工布CBR頂破試驗儀,CBR頂破試驗儀，
適用于土工布，土工膜，復(fù)合土工膜，鋼塑格柵，塑料格柵，防排水板，膨潤土防水毯等土工合成材料各種強力強度的測試. 具有液晶顯示、操作簡便等優(yōu)點。
更新時間:2025-09-10
土工合成材料垂直滲透儀，土工垂直滲透儀功能，合成材料滲透儀，
依據(jù)sl235-2012土工合成材料垂直滲透系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)設(shè)計。適用于各類土工材料垂直滲透的測量，性能穩(wěn)定，方便實用
更新時間:2025-09-10
炭黑含量測定儀，黑含量測定儀參數(shù)，
依據(jù)jtge50-2006公路土工合成材料試驗規(guī)程設(shè)計制造、適用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的測定。
更新時間:2025-09-10
電子多功能試驗機、土工布綜合強力試驗機，土工綜合強力試驗儀
主要用于各種土工合成材料及金屬、非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測試和分析研究？勺詣忧笕eh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗參數(shù)，并可根據(jù)gb、iso、din、astm、jis等國際標(biāo)準(zhǔn)進行試驗和提供數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-10
LSY-1瀝青混凝土斜坡流淌值試驗儀，混凝土斜坡流暢試驗儀功能，
一、 適用范圍：用于測定瀝青混凝土斜坡流淌值。符合dl/t5362-2006水工瀝青混凝土試驗規(guī)程。適用于骨料最大粒徑不大于26.5mm室內(nèi)成型的試件和現(xiàn)場鉆取的芯樣。二、儀器的組成：
更新時間:2025-09-10
CMT微機控制電子多功能試驗機，電子多功能試驗機說明書，
主要用于各種保溫材料及金屬、非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲強度等力學(xué)性能測試和分析研究？勺詣忧笕eh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗參數(shù)，并可根據(jù)gb、iso、din、astm、jis等國際標(biāo)準(zhǔn)進行試驗和提供數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-10
　保溫砂漿拉力機，砂漿拉力機簡介，
　　本試驗機適用于測定各種保溫砂漿的粘結(jié)強度，也可用于符合本試驗機條件的其它試驗。液晶顯示、可與微機連接實現(xiàn)微機控制。具有造型美觀，設(shè)計合理，性能穩(wěn)定，結(jié)構(gòu)緊湊操作方便優(yōu)點。
更新時間:2025-09-10
智能化導(dǎo)熱系數(shù)測定儀，智能化導(dǎo)熱系數(shù)測定儀，
　　依據(jù)gbl0294-2008標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，用于檢測絕熱材料導(dǎo)熱系數(shù)的專用設(shè)備！　(dǎo)熱系數(shù)(或熱阻)是保溫材料主要熱工性能之一，是鑒別材料保溫性能的主要技術(shù)指標(biāo)。近幾年來，隨著建筑節(jié)能法規(guī)的出臺，我國對建筑節(jié)能越來越重視。因此，測定該參數(shù)是十分必要的.對于合理選材具有十分重要的意義
更新時間:2025-09-10
　智能化導(dǎo)熱系數(shù)測定儀，導(dǎo)熱系數(shù)測定儀說明書，
　　依據(jù)gbl0294-2008標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，用于檢測絕熱材料導(dǎo)熱系數(shù)的專用設(shè)備！　(dǎo)熱系數(shù)(或熱阻)是保溫材料主要熱工性能之一，是鑒別材料保溫性能的主要技術(shù)指標(biāo)。近幾年來，隨著建筑節(jié)能法規(guī)的出臺，我國對建筑節(jié)能越來越重視。因此，測定該參數(shù)是十分必要的.對于合理選材具有十分重要的意義
更新時間:2025-09-10

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑