元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家
熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害，減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。
更新時(shí)間:2025-09-10
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售（u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board）
更新時(shí)間:2025-09-09
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元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（eda）中，從實(shí)際的元器件（如電阻、電容、晶體管等）或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過(guò)程。這一過(guò)程通常用于電路仿真，以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi_at256 a4集成電路測(cè)試儀具備二維集成電路專(zhuān)用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：256路,二維電路板專(zhuān)用v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：64/128/192/256路（最大可擴(kuò)充至2048路）,三維掃頻v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：64/128/192/256路（最大可擴(kuò)充至2048路）。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi-6500電路板測(cè)試儀是專(zhuān)為數(shù)字電路設(shè)計(jì)的解決方案，具有強(qiáng)大的測(cè)試能力和高度的靈活性，可以進(jìn)行全面的數(shù)字電路故障診斷。
更新時(shí)間:2025-09-09
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試;64通道v-i曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件);強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
更新時(shí)間:2025-09-09
產(chǎn)品體積小,重量輕,usb接口,適合攜帶;64路數(shù)字集成電路測(cè)試,64路v-i曲線測(cè)試,1路v-i探棒測(cè)試;
更新時(shí)間:2025-09-09
含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試;測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
更新時(shí)間:2025-09-09
三維立體v-i-f曲線測(cè)試儀;變頻掃描v-i-f曲線測(cè)試儀;專(zhuān)業(yè)級(jí)v-i-f曲線測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-09-09
abi-8200包含2個(gè)重要測(cè)試模塊:abi-6400+abi-2400
更新時(shí)間:2025-09-09
系統(tǒng)配有專(zhuān)用premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測(cè)試項(xiàng)目可以同時(shí)操作使用,并按照需求制定測(cè)試工作流程,記錄下測(cè)試者每一步的測(cè)試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
更新時(shí)間:2025-09-09
在bm-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無(wú)電源供給的情形下使用的vi曲線的測(cè)試功能.
更新時(shí)間:2025-09-09
集成電路及電路板的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能;數(shù)字及模擬集成電路的功能測(cè)試;動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測(cè)試;
更新時(shí)間:2025-09-09
采用無(wú)條件或有條件循環(huán)測(cè)試模式,能夠找到間歇性故障點(diǎn)和由溫度引起的故障,并顯示單個(gè)管腳的診斷信息.
更新時(shí)間:2025-09-09
內(nèi)置元件庫(kù)可以擴(kuò)充升級(jí);準(zhǔn)確可靠的仿真測(cè)試;全面性測(cè)試更加準(zhǔn)確;
更新時(shí)間:2025-09-09
邏輯電平輸出通道規(guī)格:(low voltage output for digital circuits) 電壓輸出范圍:2.5v ～ 6v 可編程;最小調(diào)整分辨率:0.01v
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi電路板反求系統(tǒng)通過(guò)測(cè)試夾、連接器、測(cè)試鉤連接到被測(cè)板上的各個(gè)器件來(lái)實(shí)現(xiàn)。system8 ultimate控制軟件將自動(dòng)指導(dǎo)用戶(hù)在被反求電路周?chē)胖煤鸵苿?dòng)測(cè)試夾具，軟件將生成最佳的夾具組合次序和夾具移動(dòng)次序，以便反求到電路板上所有可能的連接關(guān)系。用戶(hù)也可以修改和重寫(xiě)夾具的自動(dòng)放置、移動(dòng)次序。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi re1024電路板反求系統(tǒng)通過(guò)測(cè)試夾、連接器、測(cè)試鉤連接到被測(cè)板上的各個(gè)器件來(lái)實(shí)現(xiàn)。system8 ultimate控制軟件將自動(dòng)指導(dǎo)用戶(hù)在被反求電路周?chē)胖煤鸵苿?dòng)測(cè)試夾具，軟件將生成夾具組合次序和夾具移動(dòng)次序，以便反求到電路板上所有可能的連接關(guān)系。用戶(hù)也可以修改和重寫(xiě)夾具的自動(dòng)放置、移動(dòng)次序。
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英國(guó)abi電路板維修檢測(cè)儀是專(zhuān)為測(cè)試模擬器件提供的解決方案。它能對(duì)電路板維修檢測(cè)中各種常見(jiàn)的模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測(cè)試，它還具備檢測(cè)所有類(lèi)型的模擬和數(shù)字組件的眾所周知的手段：非加電v-i 曲線測(cè)試技術(shù)。如用戶(hù)只需要后一項(xiàng)v-i曲線功能，請(qǐng)選擇abi-2400測(cè)試模塊。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi_linearmaster手持模擬集成電路測(cè)試儀可測(cè)試16腳以?xún)?nèi)通用的模擬器件,包括運(yùn)放,光耦,比較器,a/d,d/a,電壓調(diào)節(jié)器及部分特殊模擬芯片;軟件可升級(jí);可顯示元器件單個(gè)管腳的診斷信息;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí);配合compactlink軟件。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi-3200電路板維修測(cè)試儀是abi-3400的簡(jiǎn)化版？稍陟o態(tài)（非加電）條件下分析器件及整板測(cè)試。采用獨(dú)特的三維立體v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件，增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi_chipmaster手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀可測(cè)40腳以下的數(shù)字集成電路和存儲(chǔ)器,接口集成電路,mcu/mpu等;可識(shí)別無(wú)標(biāo)記或無(wú)法辨別的芯片或列出代換的芯片;可顯示具體某個(gè)腳的故障診斷信息;可進(jìn)行循環(huán)或有條件循環(huán)測(cè)試;配合compactlink software軟件可進(jìn)行軟件升級(jí)。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi-2400電路板在線維修測(cè)試儀是abi-2500的簡(jiǎn)化版。主要具備非加電v-i 曲線測(cè)試技術(shù)，適合測(cè)試對(duì)電路板上各種類(lèi)型的模擬和數(shù)字器件進(jìn)行在線維修測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi_swa2048集成電路測(cè)試儀提供二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路,二維v-i動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測(cè)試通道：2048路,三維v-i-f動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道：2048路;集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè)；可用于集成電路、元器件研發(fā)測(cè)試；三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-09-09
英國(guó)abi-6400電路板檢測(cè)儀為用戶(hù)提供了所有通用數(shù)字集成電路（在線/離線）功能測(cè)試的能力。行業(yè)認(rèn)可的測(cè)試技術(shù)組合提供了高水平的故障覆蓋率。專(zhuān)用電路板檢測(cè)軟件提供了額外的工具，以進(jìn)一步加強(qiáng)該設(shè)備的廣泛應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-09-09
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