專利納米顆粒跟蹤分析技術(shù)ntananosight 開發(fā)出一種獨(dú)特的高分辨率,實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)納米顆粒檢測(cè)技術(shù),可以對(duì)于10nm–2000nm 范圍內(nèi)顆粒進(jìn)行直接觀察粒徑檢測(cè)。如果對(duì)于復(fù)雜體系中的特定顆粒進(jìn)行熒光標(biāo)記,此技術(shù)可以對(duì)于被標(biāo)記的顆粒進(jìn)行特定檢測(cè),不受到復(fù)雜組分溶液環(huán)境的影響。納米顆粒跟蹤分析技術(shù)軟件(nanoparticle tracking analysis,nta)單獨(dú)跟蹤視野中每一個(gè)顆粒的運(yùn)動(dòng)軌跡以得到每一個(gè)顆粒的粒徑信息。
更新時(shí)間:2025-07-17