延遲探測器（Delayline Detectors）

延遲探測器

延遲探測器（delayline Detectors）具有的時間分辨率、高達幾十MHz采樣和動態(tài)1D/2D /3D直方圖，將微觀粒子分析提升到高速測量的新水平。如上圖，微通道板探測器（MCP）提供了高性能電子、離子及光子成像。如果應用程序進行單事件分析，則MCP的延遲探測器（Delayline Detectors）讀出是很好的選擇，因為Delayline檢測器（DLD）能夠實現真正的單事件計數，具有高信噪比和高時間分辨率。

延遲探測器（Delayline Detectors）讀出在所有時間分辨MCP讀出系統(tǒng)中具有優(yōu)勢，因為它們提供的時間切片圖像具有很高強度線性，時間窗口低至100ps以下。

延遲探測器（Delayline Detectors）關鍵參數

延遲探測器（Delayline Detectors）配置示意圖

延遲探測器（Delayline Detectors）應用領域：

1.   電子和離子的飛行時間分析（TOF）

2.   時間相關或時間符合光子和粒子成像

3.   用于X射線和電子能譜的門控成像

4.   檢測尺寸達120mm的大面積計數成像(XPS, UPS, EELS)

5.   電子能量和飛行時間分析儀(XPS, UPS, EELS)

6.   飛行時間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)

7.   中能離子散射與飛行時間分析(MEIS - ToF)

8.   原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)

9.   X射線吸收/發(fā)射光譜(XAS, XES)

10.  門控對比增強X射線皮秒成像

11.  熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)

* 可根據要求提供部分訂制，詳情可咨詢上海昊量光電設備有限公司

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