掃描探針顯微鏡（SPM）產(chǎn)品及廠家
德國 neaspec s-snom采用標(biāo)準(zhǔn)鍍金屬afm探頭，用鐳射光進(jìn)行照射。 經(jīng)照射的探頭在其頂端形成一個(gè)納米級(jí)焦點(diǎn)，即行程一個(gè)極小光源，再通過它對(duì)樣品進(jìn)行局部掃描。掃描樣品表面時(shí)，通過記錄探頭形成的散射光，實(shí)現(xiàn)光學(xué)成像。 利用原子力顯微鏡的探針針尖當(dāng)散射源，來增強(qiáng)在針尖前端與樣品間的局限電場。藉由外差干涉、探針調(diào)制及光路設(shè)計(jì)等技術(shù)，可同時(shí)于多波長下記錄地貌、近場光場強(qiáng)度及相位影像。這項(xiàng)技術(shù)能夠用以探測納米材料的光學(xué)特性及因納米結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的電磁場變化，s-snom對(duì)于您在納米科技的發(fā)展將能夠作出重大貢獻(xiàn)。
更新時(shí)間:2025-06-06
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